SZ100納米粒度/Zeta電位分析儀

SZ100納米粒度/Zeta電位分析儀可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）*解析納米粒子的物質結構。

SZ100納米粒度/Zeta電位分析儀主要特點：

1.       將解析納米尺寸重要的三要素（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）的測定囊括于一身。

2.       從PPM順序的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原狀態(tài)下取樣調查、測定。

3.       微小容量電泳電池：為獨自研發(fā)，可以測定取樣調查僅100μL的Zeta電位。

4.       適合膠質粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應用

5.       取樣調查后，只要按測定開始按鈕即可，操作簡單。

Horiba SZ100粒子直徑測定：

超寬動態(tài)測定有效范圍：0.3nm~8000nm

通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關器，實現高性能化。

在單一納米粒子光學系統(tǒng)中，采用低角度90度光學系統(tǒng)。

廣泛測定樣品濃度范圍

通過采用雙重光學系統(tǒng)，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。

Horiba SZ100Zeta電位測定：通過安裝標準的Horiba自主研發(fā)的微型樣品池，可以測定僅100μL的樣本。