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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> FEI Quanta 650FEG掃描電鏡

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FEI Quanta 650FEG掃描電鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 北京源海威科技有限公司-J
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2019/3/20 10:33:08
  • 訪問次數(shù) 1960
產(chǎn)品標簽

掃描電鏡

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源海威科技有限公司是一家專業(yè)從事頁巖氣勘探、開發(fā)、生產(chǎn)等實驗所需系統(tǒng)解決方案的提供商。

 

 

主營產(chǎn)品

       用于巖石分析、地球化學分析、含氣性試驗分析、致密巖石實驗分析、儲層改造與開發(fā)實驗分析、儲層物性分析等儀器,頁巖氣分析軟件、生產(chǎn)用儀器以及生產(chǎn)用耗材等。

 

石油儀器

價格區(qū)間 面議 儀器種類 冷場發(fā)射

研究各種各樣的材料,并進行結(jié)構(gòu)和成份表征,是目前對掃描電鏡的主流應用要求。FEI Quanta FEG系列靈活、通用,足以應對當今人們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)。“分析任何樣品,得到所有數(shù)據(jù)”,在Quanta FEG上可得到表面像和成份像,并可輔以多種附件來確定材料的性質(zhì)和元素組成。

FEI Quanta 650FEG掃描電鏡是基于前兩代成功的肖特基場發(fā)射環(huán)境掃描技術(shù)開發(fā)的第三代Quanta系列產(chǎn)品。這一系列產(chǎn)品用戶界面使用起來十分方便、靈活,有多種功能很大程度地發(fā)揮其使用效率,并且允許采集所有需要的數(shù)據(jù)。它是電鏡專家設計來給電鏡專家使用的儀器,性能遠不止“簡便易用”。這些功能有:*的圖像導航功能包括蒙太奇圖像導航、鼠標雙擊樣品臺移動、鼠標拖曳放大居中功能以及其它標準的特色技術(shù);SmartSCAN,一種智能掃描技術(shù),能降低信號噪音,提供更好的數(shù)據(jù);電子束減速模式,一個新的選項,將鎢燈絲掃描電鏡的低加速電壓性能提高到一個全新的水平;Nav-Cam彩色圖像導航器及新開發(fā)的探測器也大大增加了其靈活性。

一、主要優(yōu)點

1)FEI Quanta 650FEG掃描電鏡具有環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場發(fā)掃描電鏡

2)在各種操作模式下分析導電和不導電樣品,得到二次電子像和背散射電子像

3)很大程度降低樣品制備要求:低真空/環(huán)境真空技術(shù)使得不導電樣品和/或含水樣品不經(jīng)導電處理即可直接成像和分析,樣品表面無電荷累積現(xiàn)象

4)專業(yè)的“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng),對導電和不導電樣品都可進行EDS/EBSD分析,不管是在高真空模式或在低真空模式。穩(wěn)定的大束流(大 200 nA)確保能譜及EBSD分析工作的快速、準確

5)電鏡可作為一個微觀實驗室。安裝特殊的原位樣品臺后,在從- 165 °C到1500 °C溫度范圍內(nèi),對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進行動態(tài)原位分析

6)對導電樣品,可選用減速模式得到表面和成份信息

7)直觀、簡便易用的軟件,即使電鏡新手也能輕易上手

 

二、典型應用:

1、納米表征

1)金屬及合金, 氧化/腐蝕, 斷口, 焊點, 拋光斷面, 磁性及超導材料

2)陶瓷, 復合材料, 塑料

3)薄膜/涂層地質(zhì)樣品斷面, 礦物

4)軟物質(zhì): 聚合物, 藥品, 過濾膜, 凝膠, 生物組織, 木材

5)顆粒, 多孔材料, 纖維

2、原位過程分析

1)增濕/去濕

2)浸潤行為/接觸角分析

3)氧化/腐蝕

4)拉伸 (伴隨加熱或冷卻)

5)結(jié)晶/相變

3、納米原型制備

1)電子束曝光 (EBL)

2)電子束誘導沉積(EBID)

 

三、主要參數(shù)

1、電子光學

1)高分辨肖特基場發(fā)射電子槍

2)優(yōu)化的高亮度、大束流鏡筒

3)45°錐度物鏡極靴,及“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng),加熱式物鏡光闌

4)加速電壓: 200 V - 30 kV

5)束流: 大200 nA并連續(xù)可調(diào)

6)放大倍數(shù): 6 x 1,000,000 x (四幅圖像顯示)

2、分辨率

1)高真空

30 kV下0.8 nm (STEM)*

30 kV下1.0 nm (SE)

30 kV下2.5 nm (BSE)*

1 kV下3.0 nm (SE)

2)高真空下減速模式*

1 kV下3.0 nm (BSE)*

1 kV下2.3 nm (ICD)*

200 V下3.1 nm (ICD)*

3)低真空

30 kV下1.4 nm (SE)

30 kV下 2.5 nm (BSE)

3 kV下3.0 nm (SE)

4)環(huán)境真空 (ESEM)

30 kV下1.4 nm (SE)

 

3、檢測器

1)E-T二次電子探頭

2)大視場低真空氣體二次電子探頭 (LFD)

3)氣體二次電子探頭 (GSED)

4)樣品室紅外CCD相機

5)高靈敏度、低電壓固體背散射探頭*

6)氣體背散射探頭*

7)四分固體背散射探頭*

8)閃爍體型背散射探頭/CLD*

9)vCD (低電壓、高襯度探頭)*

10)鏡筒內(nèi)探頭(ICD),用于減速模式下二次電子檢測*

11)電子束流檢測器*

12)分析型氣體背散射探頭 (GAD)*

13)STEM探頭*

14)Nav-Cam 光學相機彩色成像,用于樣品導航*

15)陰極熒光探測器*

16)能譜*

17)波譜*

18)EBSD*

19)極靴底部安裝四環(huán)分隔式定向型背散射電子探頭 (DBS)



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