化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>X射線(xiàn)能譜儀(EDS)>S-4800 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜儀人人實(shí)驗(yàn)
S-4800 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜儀人人實(shí)驗(yàn)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 人人實(shí)驗(yàn)(北京)科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) S-4800
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2019/3/29 14:14:26
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 1234
產(chǎn)品標(biāo)簽
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 探測(cè)器類(lèi) | 鋰漂移硅探測(cè)器Si(Li) |
---|---|---|---|
儀器種類(lèi) | 進(jìn)口 |
其他描述
設(shè)備簡(jiǎn)介 | 技術(shù)指標(biāo):二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)電子槍:冷場(chǎng)發(fā)射電子源加速電壓:0.5~30 kV(0.1 kV/步,可變)放大倍率:×30 ~ ×800,000。X射線(xiàn)能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92。儀器用途:用于觀(guān)察材料表面的微細(xì)形貌、斷口及內(nèi)部組織,并對(duì)材料表面微區(qū)成分進(jìn)行定性和定量分析,主要用途如下: 金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無(wú)機(jī)或有機(jī)固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀(guān)察;?材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定;?金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測(cè)定;?納米材料及其它無(wú)機(jī)或有機(jī)固體材料的粒度觀(guān)察和分析 ;?進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。? |
相關(guān)分類(lèi)
該廠(chǎng)商的其他產(chǎn)品
相關(guān)技術(shù)文章
- X射線(xiàn)能譜儀在材料分析中的創(chuàng)新
- EDX測(cè)試系統(tǒng)的分辨率對(duì)元素的區(qū)
- 便攜式能譜儀廣泛應(yīng)用于環(huán)境輻射
- X射線(xiàn)能譜儀的校準(zhǔn)與數(shù)據(jù)處理技
- 高純鍺伽馬能譜儀可用于體外診斷
- 筆式射線(xiàn)報(bào)警儀的使用方法及注意
- 藍(lán)景 低本底 γ 能譜儀:輻射監(jiān)
- 能量色散X射線(xiàn)分析技術(shù)在材料科
- 便攜式能譜儀便于攜帶至各種現(xiàn)場(chǎng)
- 如何對(duì)X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀結(jié)