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臺式合金光譜分析儀

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光譜分析儀

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蘇州實譜信息科技有限公司位于江蘇蘇州專業(yè)從事X射線熒光光譜技術研發(fā)生產(chǎn)的*。我公司涉及X射線熒光光譜儀、ROHS測試儀、X-ray膜厚儀、X熒光陶瓷鑒定儀、便攜光譜儀等*產(chǎn)品解決方案,并具有多年的X射線熒光光譜儀相關產(chǎn)品與服務的銷售和經(jīng)驗。憑借專業(yè)的技術,誠信的經(jīng)營,和不斷創(chuàng)新的精神公司發(fā)展迅速。在發(fā)展的同時公司不忘不斷總結不斷優(yōu)化為客戶的服務,和一如既往的熱情贏得了新老客戶的*評價及青睞。



X射線熒光光譜儀,ROHS測試儀,X-ray膜厚儀,鍍層測厚儀,X熒光陶瓷鑒定儀,便攜光譜儀等

臺式合金光譜分析儀,可用于確認物質里的特定元素, 同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來,XRF度普術就能測定物質的元素構成。

每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負電微粒)運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱,例如鐵,元素名是Fe,原子數(shù)是26。 能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了里層三個電子軌道即K,L,M上的活動情況,其中K軌道為接近核子,每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層(伊諾斯合金分析儀中國服務商)。

在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時,原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中,它們會釋放出能量,我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。例如,鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度,能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

臺式合金光譜分析儀檢測范圍

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Nb, Zr, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, Re, W, Pb, Bi



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