NaU-E650型 X熒光光譜儀

NaU-E650型 X熒光光譜儀主要應用特點：

采用納優(yōu)專業(yè)技術的全新光路設計，顯著抻高分析精度和數(shù)據(jù)可靠性，減小灰色地帶區(qū)間，節(jié)省外送檢測成本；

行業(yè)內(nèi)全配置的12組濾光片（行業(yè)內(nèi)一般配置≤8組），實現(xiàn)大自動精度選擇空間。

提供開放式工作曲線標定技術平臺，可為用戶量身定做有害物質(zhì)檢測和控制方案；

全自動一鍵式操作－載物平臺、樣品室、準直器、濾光片、照射光斑定位等全部自動操作；

測試時間在100－400秒間自行設定（系統(tǒng)自動默認設定200秒）；

經(jīng)典可靠的迷宮式輻射防護結構，結合軟硬件多重保護，確保輻射安全性能；

測量元素范圍：Na-U.

NaU-E650型 X熒光光譜儀主要應用技術指標：

（針對RoHS指令要求，按照*電子信息產(chǎn)品污染控制技術促進中心《RoHS檢測用Ｘ熒光能譜儀性能評價規(guī)范RoHSQ09-005》的定義和測試方法，篩選測試各種中的Pb、Cd、Hg、CrBrCl）

NaU-E650 進行XRF篩選允收標準示例（*值，按照IEC62321Edition 1.0 2008-12 標準帛定）。