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日立分析儀器(上海)有限公司

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NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)

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雷迪美特中國有限公司一直致力于用于實驗室和工廠常規(guī)測試、研發(fā)和教學的電化學儀器的研發(fā)和制造,生產配套的電極、校準用標準溶液、自動進樣器、操作軟件等配件,專業(yè)和優(yōu)質的服務,讓分析和研究實驗更輕松、更精準!

  我們的產品包括:
   -  pH、離子和電導率測量:為用戶提供多種用于實驗室和野外測試的分析
      儀器、電極和標準溶液;
   -  電位滴定:為用戶提供多款自動電位滴定儀、卡爾費休水分測定儀、自
      動進樣器、*軟件和各類標準溶液;
   -  伏安分析:為用戶提供一體化設計的電化學測量及分析儀,包括恒電位
      儀、阻抗測試儀、電化學工作站及相關操作軟件,可運行伏安分析、電
      流分析、電量測定、極譜分析和EIS阻抗分析等電化學技術;
      
    雷迪美特中國有限公司將秉承的為分析研究工作者服務的宗旨,及時、合理地提供優(yōu)質的產品及Z佳的服務,爭取做到較好!

    更多信息請撥打400-628-2898與我們聯(lián)系

自動電位滴定儀,電化學工作站,水分儀

薄膜的光學特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進行10nm~250μm的膜厚分析測量,對單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)特點

可分析單層或多層薄膜
分辨率達0.1nm
適合于在線監(jiān)測
操作理論

常用的兩種測量薄膜的特性的方法為光學反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進行膜厚測量。

查找n和k值

可以進行多達三層的薄膜測量,薄膜和基體測量可以是金屬、電介質、無定形材料或硅晶等。NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫,用戶也可以自己添加和編輯。

應用

NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質上的抗反射涂層、抗磨涂層等。

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