OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列探傷儀

奧林巴斯OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列探傷儀*代理

NORTEC 600渦流探傷儀奧林巴斯一級(jí)代理，OMNISCAN MX 相控陣&TOFD超聲檢查設(shè)備，奧林巴斯無損探傷設(shè)渦流陣列檢測(cè)儀器OmniScan MX MXE(ECT / ECA。

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OmniScan MX ECA

用于進(jìn)行渦流陣列檢測(cè)。其檢測(cè)配置支持32個(gè)傳感器線圈（使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線圈），其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz，帶有一個(gè)可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項(xiàng)。

渦流陣列檢測(cè)

渦流陣列技術(shù) 
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。 

OmniScan® ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢(shì) 
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì)：

• 檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。
• 單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。
• 減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
• 提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。
• *地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。
• 改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）。

渦流陣列探頭 
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應(yīng)檢測(cè)部件的外形。

用于腐蝕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

用于表面裂痕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼。

用于表面裂痕檢測(cè)的式探頭。

奧林巴斯OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列探傷儀*代理

渦流陣列軟件

簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

• C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測(cè)缺陷。
• 分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào)。
• 波幅、相位和位置測(cè)量。
• 可調(diào)彩色調(diào)色板。
• 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測(cè)相適應(yīng)。

校準(zhǔn)向?qū)?/span>

• 分步進(jìn)行。
• 一組中的所有通道可被同時(shí)校準(zhǔn)，每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。
• 波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。

報(bào)警

• ３個(gè)報(bào)警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
• 可以在阻抗圖中定義不同的報(bào)警區(qū)形狀（扇形、長(zhǎng)方形、環(huán)形等）。

自動(dòng)探頭識(shí)別和配置

• 探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動(dòng)設(shè)置。
• 頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。

高級(jí)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理

• 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。
• 使用兩個(gè)頻率，可生成一個(gè)MIX信號(hào)，以去除干擾信號(hào)（如：提離、緊固件信號(hào)等）。
• 數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例：在搭接處邊緣檢測(cè)出裂紋，因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測(cè)效果，特別是對(duì)小裂紋而言。

我司銷售工業(yè)X射線探傷機(jī)，萬睿視（Varex）平板探測(cè)器（DR-PaxScan® 1515DXT平板探測(cè)器、DR-PaxScan®2520DX平板探測(cè)器、DR-PaxScan®2530HE平板探測(cè)器、DR-PaxScan® 1313DX平板探測(cè)器、DR-PaxScan®2530DX平板探測(cè)器、DR-PaxScan® 1308DXT平板探測(cè)器、DR-PaxScan®1308DX平板探測(cè)器）及球管。

超聲波探傷儀（復(fù)合材料粘接檢測(cè)儀BondMaster 1000e+、超聲探傷儀EPOCH XT、超聲探傷儀EPOCH 600、超聲探傷儀EPOCH LTC、超聲波TOFD相控陣OmniScan MX2、超聲波TOFD相控陣Ominscan SX、超聲探傷儀EPOCH 1000系列、超聲波點(diǎn)焊檢測(cè)系統(tǒng)USLT USB、超聲波探傷儀USN60、超聲波探傷儀USM 36、便攜式超聲波探傷儀USMgo+）、

探頭線、探頭、各種試塊、

測(cè)厚儀（MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀、新型45MG超聲波測(cè)厚儀、高級(jí)多功能超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS、經(jīng)濟(jì)型超聲波測(cè)厚儀27MG、35RDC復(fù)合材料粘接檢測(cè)儀、便攜式MG2系列腐蝕測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀DM5E、精密測(cè)厚儀CL5），

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工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡（EFER FLASH 900、 IPLEX NX?、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS）、紫外熒光內(nèi)窺鏡、磁粉探傷機(jī)、反差增強(qiáng)劑，滲透劑等，

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