多層鍍鎳鍍銀測(cè)厚儀（電解破壞式）

多層鍍鎳鍍銀測(cè)厚儀（電解破壞式）

庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀可以用于測(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹(shù)脂上的銅等。測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫(kù)侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠，儀器使用簡(jiǎn)便。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需要專(zhuān)業(yè)知識(shí)。

德國(guó)菲希爾fischer有兩款庫(kù)侖測(cè)厚儀，Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀和Couloscope CMS2 STEP  庫(kù)侖法測(cè)厚儀（主要有汽車(chē)行業(yè)），Couloscope CMS2 STEP 根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差，多用于汽車(chē)行業(yè)。

OULOSCOPE® CMS2 STEP特征介紹：
CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。 鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有 AgCl 的銀電極得到。
 

應(yīng)用實(shí)例：

使用 COULOSCOPE CMS2 和支架 V18 測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度.

COULOSCOPE CMS2 STEP 測(cè)量： 帶有球狀支撐和可旋轉(zhuǎn)支撐板的V18 支架。 測(cè)量槽存放架可存放 3 個(gè) 100ml 的實(shí)驗(yàn)室瓶。

具備 5X5 單獨(dú)測(cè)量區(qū)域的校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)片

測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度

CMS2 STEP 的典型應(yīng)用: 汽車(chē)制造中的 Cr 裝飾物， 多層鎳的鍍層

測(cè)量原理：
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和化學(xué)電位差）的簡(jiǎn)寫(xiě)， 是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測(cè)量方法。它可以同時(shí)測(cè)量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測(cè)量時(shí)用庫(kù)侖法來(lái)測(cè)量，電位差通過(guò)外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來(lái)測(cè)量。電壓曲線可以顯示在屏幕上，鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測(cè)量結(jié)果，參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個(gè)問(wèn)題通過(guò)特殊的測(cè)量槽得到解決
銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)圓錐形的環(huán)狀電極，并作為測(cè)量槽底部的外殼與測(cè)量槽蓋連接。測(cè)量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。