FIB-SEM 超高分辨雙束FIB

S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的第yi個新成員，是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統(tǒng)，它可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學術界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的優(yōu)點：

• 新yi代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力

• *配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析

• 配置4個新yi代探測器，可實現(xiàn)9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加全面

• 配置大型樣品室，有超過20個擴展接口，為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，并du家實現(xiàn)與TOF-SIMS、Raman聯(lián)用

• 新yi代操作軟件和自動功能，F(xiàn)IB鏡筒具有全自動的離子鏡筒對中，ji大簡化了操作

• 概述