慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/19 10:30:14
- 訪問次數(shù) 1745
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總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀,靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀,源表,干燥箱烘箱,高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱,LCR阻抗分析儀,示波器,頻譜儀,耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)
薄膜太陽電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨,金屬片等不同材料當(dāng)基板來制造,薄膜太陽電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式,與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同,是不可以混淆的,薄膜型太陽能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。
形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm,因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽能電池90%以上),目前轉(zhuǎn)換效率高以可達(dá)13%,薄膜電池太陽電池除了平面之外,也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大,可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份,在薄膜太陽電池制造上,則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù),一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去,常見的薄膜太陽電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。
慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特色:
a.符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求
b.試驗(yàn)過程進(jìn)行相關(guān)電性與物理量量測(cè)
c.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上
d.專li設(shè)計(jì)太陽能放置治具
e.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制
目的:確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。
要求:
1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
2.整個(gè)測(cè)試過程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器
4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。
慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 參數(shù)指標(biāo)
溫度循環(huán)比較
低溫
高溫
溫變率
駐留時(shí)間
循環(huán)數(shù)
IEC61646
-40±2℃
85±2℃
大100℃/h
少10min
50、200
GB18911
-40±2℃
85±2℃
大100℃/h
少10min
50、200
CNS15115
-40±2℃
85±2℃
大100℃/h
少10min
50、200
Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)
目的:確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。
要求:
1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
2.整個(gè)測(cè)試過程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器
4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。
溫度循環(huán)比較
高溫高濕
低溫
溫變率
循環(huán)數(shù)
IEC61646
85℃/85±5%(20h)
-40℃(0.5~4h)
高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
10
GB18911
85℃/85±5%(20h)
-40℃(0.5~4h)
高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
10
CNS15115
85℃/85±5%(20h)
-40℃(0.5~4h)
高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
10
Damp Heat(濕熱測(cè)試)
目的:確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。
試驗(yàn)條件:85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)
直立式觸控式控制系統(tǒng)
控制系統(tǒng)通過EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證
直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器
9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間
150 program x 100 step 程序記憶容量
USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄
12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口
全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)
High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈
Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈
慶聲KSON太陽能電池開路量測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)
(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)
太陽能電池在可靠度測(cè)試中必須要進(jìn)規(guī)范所提到的濕冷凍、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)..等試驗(yàn),確認(rèn)太陽能電池在試驗(yàn)過程當(dāng)中是否發(fā)生故障或是失效,透過開路測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行簡(jiǎn)易的太陽能電池失效判定。
IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(guī)范對(duì)試驗(yàn)中量測(cè)系統(tǒng)要求:
太陽能電池規(guī)范
IEC61646(薄膜太陽能)
IEC61215(晶圓太陽能)
UL1703(晶圓太陽能)
IEE1513(聚光型太陽能)
整個(gè)測(cè)試過程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍
監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性
熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍
整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度
熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍
并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。
熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍
絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求
熱循環(huán)、濕冷凍、
濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍、
濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍、
濕熱試驗(yàn)
施加電流等于測(cè)試模塊之STC大功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電,模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)
熱循環(huán)
測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍
適用規(guī)范:IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730
試驗(yàn)試驗(yàn)條件:溫度循環(huán)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)
濕熱 (Damp-heat test)
量測(cè)軌道:4組太陽能電池(溫度*1+電壓*2+電阻*1)+爐內(nèi)溫濕度
失效判定:設(shè)定量測(cè)值上下限范圍
報(bào)表:EXCEL報(bào)告
曲線:18軌多軌曲線(電壓、電阻、表面溫度、試驗(yàn)爐溫濕度)
控制模式:量測(cè)、暫停、停止
溫度量測(cè):熱電偶合
備注:此系統(tǒng)不包含太陽能恒溫恒濕機(jī)、計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)桌、儀器架
建議搭配設(shè)備:太陽能恒溫恒濕機(jī)
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