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慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)

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堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——通過德國(guó)萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——實(shí)繳注冊(cè)資金人民幣壹仟萬元整!實(shí)繳資本同行業(yè)中居全國(guó)QIAN三!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——抗金融風(fēng)險(xiǎn)實(shí)力超QIANG,且為行業(yè)里極少數(shù)通過會(huì)計(jì)事務(wù)所嚴(yán)格審計(jì)的公司,公司遵紀(jì)守法,用戶合作安全可靠!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量,全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!


專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年,志在破舊立新!填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn),但技術(shù)支持薄弱甚至沒有,而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù),不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn),以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營(yíng)理念,與客戶互惠互利合作雙贏,重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作,提供具競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。


經(jīng)營(yíng)品牌及產(chǎn)品:

一、測(cè)試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用,撰寫有上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用文章】:

USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測(cè)試、半導(dǎo)體I-V測(cè)試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......


二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測(cè)量/機(jī)器人手臂:

愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、

高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動(dòng)臺(tái)、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。??怂箍礖EXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/智能機(jī)械人手臂。


三、靜電檢測(cè)消除:

DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測(cè)試儀、靜電測(cè)試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測(cè)試儀、電荷電量庫侖計(jì)、MET ONE百級(jí)潔凈室塵埃粒子計(jì)。


四、電子測(cè)量?jī)x器:

是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國(guó)EA電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號(hào)源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測(cè)試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測(cè)試儀。


五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器:

賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器,天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤(rùn)滑油鐵粉濃度計(jì)。


六、金相設(shè)備耗材:

賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。



     企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實(shí)際測(cè)試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測(cè)試》、《存儲(chǔ)器SD4.1、eMMC5.1測(cè)試》、《電腦周邊USB3.0、UART測(cè)試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測(cè)試》、《MVB、WTB總線軌道交通測(cè)試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測(cè)試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測(cè)試》、《GB/T國(guó)標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測(cè)試方案》、《防靜電地板/臺(tái)面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測(cè)試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測(cè)試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測(cè)試評(píng)估》、《6517B與B2985A高阻表測(cè)量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測(cè)試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測(cè)量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢(shì)、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測(cè)試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測(cè)試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測(cè)試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號(hào)采集/射頻微波測(cè)試》、《音視頻綜合測(cè)試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測(cè)試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A,KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測(cè)多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料,繼電器開關(guān),汽車電子連接器微小電阻測(cè)試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測(cè)試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì),DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流,二極管暗電流測(cè)試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測(cè)試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測(cè)試》、《半導(dǎo)體材料SiC,GaN等電流/電壓特性分析和功能測(cè)試》、《光電子/納米電子器件測(cè)試》、《LED照明測(cè)試》、《OLED,TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測(cè)試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測(cè)試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測(cè)試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動(dòng)系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測(cè)測(cè)試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測(cè)試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測(cè)定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國(guó)安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測(cè)試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測(cè)試》、《干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用解決方案文章,為工業(yè)測(cè)試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。

     堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念,嚶其鳴矣 求其友聲,我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠(chéng)共贏合作,為祖國(guó)測(cè)試行業(yè)“添磚加瓦”!


上海堅(jiān)融實(shí)業(yè).jpg

IMG_2472.JPG

上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)-營(yíng)業(yè)執(zhí)照副本掃描件.png

堅(jiān)友測(cè)量?jī)x器營(yíng)業(yè)執(zhí)照.jpg

TUV認(rèn)證.jpg

代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證:

用戶培訓(xùn):




總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀,靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀,源表,干燥箱烘箱,高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱,LCR阻抗分析儀,示波器,頻譜儀,耐壓絕緣電阻測(cè)試儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子

慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)  

    薄膜太陽電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨,金屬片等不同材料當(dāng)基板來制造,薄膜太陽電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式,與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同,是不可以混淆的,薄膜型太陽能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。

形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm,因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽能電池90%以上),目前轉(zhuǎn)換效率高以可達(dá)13%,薄膜電池太陽電池除了平面之外,也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大,可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份,在薄膜太陽電池制造上,則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù),一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去,常見的薄膜太陽電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。

 

慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特色:

a.符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求

b.試驗(yàn)過程進(jìn)行相關(guān)電性與物理量量測(cè)

c.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

d.專li設(shè)計(jì)太陽能放置治具

e.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

 

目的:確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

要求:

1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。

 

慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 參數(shù)指標(biāo)

溫度循環(huán)比較

 

低溫

 

高溫

 

溫變率

 

駐留時(shí)間

 

循環(huán)數(shù)

 

IEC61646

 

-40±2℃

 

85±2℃

 

大100℃/h

 

少10min

 

50、200

 

GB18911

 

-40±2℃

 

85±2℃

 

大100℃/h

 

少10min

 

50、200

 

CNS15115

 

-40±2℃

 

85±2℃

 

大100℃/h

 

少10min

 

50、200

 

Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)

 

目的:確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

要求:

1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。

 

 

溫度循環(huán)比較

 

高溫高濕

 

低溫

 

溫變率

 

循環(huán)數(shù)

 

IEC61646

 

85℃/85±5%(20h)

 

-40℃(0.5~4h)

 

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

 

10

 

GB18911

 

85℃/85±5%(20h)

 

-40℃(0.5~4h)

 

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

 

10

 

CNS15115

 

85℃/85±5%(20h)

 

-40℃(0.5~4h)

 

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

 

10

 

Damp Heat(濕熱測(cè)試)

目的:確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。

試驗(yàn)條件:85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

 

 

  直立式觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

 

慶聲KSON太陽能電池開路量測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽能電池在可靠度測(cè)試中必須要進(jìn)規(guī)范所提到的濕冷凍、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)..等試驗(yàn),確認(rèn)太陽能電池在試驗(yàn)過程當(dāng)中是否發(fā)生故障或是失效,透過開路測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行簡(jiǎn)易的太陽能電池失效判定。

 

IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(guī)范對(duì)試驗(yàn)中量測(cè)系統(tǒng)要求:

太陽能電池規(guī)范

IEC61646(薄膜太陽能)

IEC61215(晶圓太陽能)

UL1703(晶圓太陽能)

IEE1513(聚光型太陽能)

整個(gè)測(cè)試過程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

 

熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn)

施加電流等于測(cè)試模塊之STC大功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電,模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)

 

  熱循環(huán)  

測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

 

適用規(guī)范:IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試驗(yàn)試驗(yàn)條件:溫度循環(huán)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量測(cè)軌道:4組太陽能電池(溫度*1+電壓*2+電阻*1)+爐內(nèi)溫濕度

失效判定:設(shè)定量測(cè)值上下限范圍

報(bào)表:EXCEL報(bào)告

曲線:18軌多軌曲線(電壓、電阻、表面溫度、試驗(yàn)爐溫濕度)

控制模式:量測(cè)、暫停、停止

溫度量測(cè):熱電偶合

備注:此系統(tǒng)不包含太陽能恒溫恒濕機(jī)、計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)桌、儀器架

建議搭配設(shè)備:太陽能恒溫恒濕機(jī)



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