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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>試驗(yàn)箱>其它試驗(yàn)箱> 慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)

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慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)

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堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——通過(guò)德國(guó)萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——實(shí)繳注冊(cè)資金人民幣壹仟萬(wàn)元整!實(shí)繳資本同行業(yè)中居全國(guó)QIAN三!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——抗金融風(fēng)險(xiǎn)實(shí)力超QIANG,且為行業(yè)里極少數(shù)通過(guò)會(huì)計(jì)事務(wù)所嚴(yán)格審計(jì)的公司,公司遵紀(jì)守法,用戶合作安全可靠!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量,全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!


專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年,志在破舊立新!填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn),但技術(shù)支持薄弱甚至沒(méi)有,而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù),不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn),以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營(yíng)理念,與客戶互惠互利合作雙贏,重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作,提供具競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。


經(jīng)營(yíng)品牌及產(chǎn)品:

一、測(cè)試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用,撰寫有上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用文章】:

USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測(cè)試、半導(dǎo)體I-V測(cè)試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......


二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測(cè)量/機(jī)器人手臂:

愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、

高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動(dòng)臺(tái)、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/智能機(jī)械人手臂。


三、靜電檢測(cè)消除:

DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測(cè)試儀、靜電測(cè)試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測(cè)試儀、電荷電量庫(kù)侖計(jì)、MET ONE百級(jí)潔凈室塵埃粒子計(jì)。


四、電子測(cè)量?jī)x器:

是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國(guó)EA電源、電子負(fù)載、萬(wàn)用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號(hào)源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測(cè)試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測(cè)試儀。


五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器:

賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬(wàn)通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器,天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤(rùn)滑油鐵粉濃度計(jì)。


六、金相設(shè)備耗材:

賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂(lè)Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。



     企業(yè)在銷售過(guò)程中根據(jù)給用戶實(shí)際測(cè)試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測(cè)試》、《存儲(chǔ)器SD4.1、eMMC5.1測(cè)試》、《電腦周邊USB3.0、UART測(cè)試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測(cè)試》、《MVB、WTB總線軌道交通測(cè)試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測(cè)試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測(cè)試》、《GB/T國(guó)標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測(cè)試方案》、《防靜電地板/臺(tái)面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測(cè)試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測(cè)試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測(cè)試評(píng)估》、《6517B與B2985A高阻表測(cè)量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測(cè)試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測(cè)量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢(shì)、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測(cè)試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測(cè)試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測(cè)試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號(hào)采集/射頻微波測(cè)試》、《音視頻綜合測(cè)試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測(cè)試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A,KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測(cè)多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料,繼電器開關(guān),汽車電子連接器微小電阻測(cè)試》、《靜電電量Static Charge電荷庫(kù)侖Coulomb測(cè)試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì),DMM7510圖形萬(wàn)用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流,二極管暗電流測(cè)試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測(cè)試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測(cè)試》、《半導(dǎo)體材料SiC,GaN等電流/電壓特性分析和功能測(cè)試》、《光電子/納米電子器件測(cè)試》、《LED照明測(cè)試》、《OLED,TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測(cè)試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測(cè)試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽(yáng)能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測(cè)試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動(dòng)系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測(cè)測(cè)試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測(cè)試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測(cè)定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDEJIS等各國(guó)安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測(cè)試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測(cè)試》、《干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用解決方案文章,為工業(yè)測(cè)試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。

     堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念,嚶其鳴矣 求其友聲,我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠(chéng)共贏合作,為祖國(guó)測(cè)試行業(yè)“添磚加瓦”!


上海堅(jiān)融實(shí)業(yè).jpg

IMG_2472.JPG

上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)-營(yíng)業(yè)執(zhí)照副本掃描件.png

堅(jiān)友測(cè)量?jī)x器營(yíng)業(yè)執(zhí)照.jpg

TUV認(rèn)證.jpg

代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證:

用戶培訓(xùn):





總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀,靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀,源表,干燥箱烘箱,高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱,LCR阻抗分析儀,示波器,頻譜儀,耐壓絕緣電阻測(cè)試儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)  

    薄膜太陽(yáng)電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨,金屬片等不同材料當(dāng)基板來(lái)制造,薄膜太陽(yáng)電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式,與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同,是不可以混淆的,薄膜型太陽(yáng)能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。

形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm,因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽(yáng)能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽(yáng)能電池90%以上),目前轉(zhuǎn)換效率高以可達(dá)13%,薄膜電池太陽(yáng)電池除了平面之外,也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大,可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份,在薄膜太陽(yáng)電池制造上,則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù),一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去,常見的薄膜太陽(yáng)電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。

 

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特色:

a.符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求

b.試驗(yàn)過(guò)程進(jìn)行相關(guān)電性與物理量量測(cè)

c.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

d.專li設(shè)計(jì)太陽(yáng)能放置治具

e.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

 

目的:確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

要求:

1.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開路或接地失效)。

 

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 參數(shù)指標(biāo)

溫度循環(huán)比較

 

低溫

 

高溫

 

溫變率

 

駐留時(shí)間

 

循環(huán)數(shù)

 

IEC61646

 

-40±2℃

 

85±2℃

 

大100℃/h

 

少10min

 

50、200

 

GB18911

 

-40±2℃

 

85±2℃

 

大100℃/h

 

少10min

 

50、200

 

CNS15115

 

-40±2℃

 

85±2℃

 

大100℃/h

 

少10min

 

50、200

 

Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)

 

目的:確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

要求:

1.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開路或接地失效)。

 

 

溫度循環(huán)比較

 

高溫高濕

 

低溫

 

溫變率

 

循環(huán)數(shù)

 

IEC61646

 

85℃/85±5%(20h)

 

-40℃(0.5~4h)

 

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

 

10

 

GB18911

 

85℃/85±5%(20h)

 

-40℃(0.5~4h)

 

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

 

10

 

CNS15115

 

85℃/85±5%(20h)

 

-40℃(0.5~4h)

 

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

 

10

 

Damp Heat(濕熱測(cè)試)

目的:確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。

試驗(yàn)條件:85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

 

 

  直立式觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過(guò)EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

 

慶聲KSON太陽(yáng)能電池開路量測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽(yáng)能電池在可靠度測(cè)試中必須要進(jìn)規(guī)范所提到的濕冷凍、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)..等試驗(yàn),確認(rèn)太陽(yáng)能電池在試驗(yàn)過(guò)程當(dāng)中是否發(fā)生故障或是失效,透過(guò)開路測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行簡(jiǎn)易的太陽(yáng)能電池失效判定。

 

IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(guī)范對(duì)試驗(yàn)中量測(cè)系統(tǒng)要求:

太陽(yáng)能電池規(guī)范

IEC61646(薄膜太陽(yáng)能)

IEC61215(晶圓太陽(yáng)能)

UL1703(晶圓太陽(yáng)能)

IEE1513(聚光型太陽(yáng)能)

整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開路或接地失效)。

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

 

熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn)

施加電流等于測(cè)試模塊之STC大功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電,模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)

 

  熱循環(huán)  

測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

 

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

 

適用規(guī)范:IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試驗(yàn)試驗(yàn)條件:溫度循環(huán)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量測(cè)軌道:4組太陽(yáng)能電池(溫度*1+電壓*2+電阻*1)+爐內(nèi)溫濕度

失效判定:設(shè)定量測(cè)值上下限范圍

報(bào)表:EXCEL報(bào)告

曲線:18軌多軌曲線(電壓、電阻、表面溫度、試驗(yàn)爐溫濕度)

控制模式:量測(cè)、暫停、停止

溫度量測(cè):熱電偶合

備注:此系統(tǒng)不包含太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)、計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)桌、儀器架

建議搭配設(shè)備:太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)



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