光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀精密3D形貌測量

非接觸式光學(xué)輪廓儀

  ● 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
  ● 全量程0.1埃的分辨率
  ● 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
  ● RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
  ● 多語言版本的64位控制和分析軟件

無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。

應(yīng)用：材料研究、醫(yī)療植入物、SIMS凹面、軸承粗糙度、密封面、晶圓粗糙度、拋光光學(xué)器件、曲軸加工、晶圓蝕刻深度、織紋鋼、儲油率(軸承)、太陽能電池、金剛石車削、紙/碳粉、汽車噴油器、手機(jī)耳機(jī)、表面結(jié)構(gòu)、牙齒磨損

大量程、高分辨率、高準(zhǔn)確性和高可靠性–取得成功的四大要素
無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對極為粗糙到非常光滑的所有表面進(jìn)行細(xì)致全面的分析。功能豐富–可隨時(shí)用于生產(chǎn)運(yùn)營或研究項(xiàng)目時(shí)刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展，CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學(xué)和醫(yī)療器械等領(lǐng)域提出的苛刻的測量要求。高級數(shù)據(jù)拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。

使用的簡便性可減少操作員的培訓(xùn)成本
即便不常使用，也無需對操作員重新進(jìn)行培訓(xùn)和指導(dǎo)。CCI    MP的設(shè)計(jì)便于科學(xué)家、學(xué)生、開發(fā)人員或生產(chǎn)檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動(dòng)量程和自動(dòng)條紋尋找等，可以簡化樣品的調(diào)整過程。為用戶節(jié)省時(shí)間、減少錯(cuò)誤并快速得出所需結(jié)果。

完整的平臺簡化ISO-17025的集成
 不需要增加程序的復(fù)雜性就可使用戶的分析能力得到極大提高。也不需要測量模式間進(jìn)行復(fù)雜的切換，以及測量過程中校準(zhǔn)鏡頭，就可以測量多種多樣零件和表面。標(biāo)準(zhǔn)化的模式、程序和報(bào)告功能，使CCI MP可輕松集成到用戶的質(zhì)量管理系統(tǒng)。

 

  ● 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
  ● 全量程0.1埃的分辨率
  ● 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
  ● RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
  ● 多語言版本的64位控制和分析軟件