X-Strata920 一款來自牛津的膜厚儀X-Strata920
- 公司名稱 深圳市譜賽斯科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號(hào) X-Strata920
- 產(chǎn)地 原美國(guó)牛津
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2019/9/11 15:50:46
- 訪問次數(shù) 1242
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價(jià)格區(qū)間 | 20萬(wàn)-50萬(wàn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,冶金,航天,汽車 |
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一款來自牛津的膜厚儀X-Strata920
金鎳測(cè)厚儀x-stara920特點(diǎn):
可測(cè)元素:鈦Ti22---鈾U92間各元素;
可測(cè)鍍層:5層鍍層(含基材層),15種元素共存校正;
測(cè)量時(shí)間約10秒,快速得出測(cè)量結(jié)果;
測(cè)量結(jié)果***到微英寸;
測(cè)量結(jié)果報(bào)告可包含:數(shù)據(jù)、被測(cè)樣品點(diǎn)圖片、各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表、客戶信息;
提供貴重金屬分析和金純度檢查(即Au karat評(píng)價(jià));
提供NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片;
享有的服務(wù)與支持。
金鎳測(cè)厚儀x-stara920測(cè)厚范圍:
取決于具體的應(yīng)用。
金鎳測(cè)厚儀x-stara920測(cè)量精度:
膜厚≤20µin(0.5um)時(shí),測(cè)量誤差值為:一層±1µin,第二層±2µin,第二層±3µin
膜厚>20µin(0.5um)時(shí),測(cè)量誤差值為:一層±5%,第二層±10%,第二層±15%
一款來自牛津的膜厚儀X-Strata920?可檢測(cè)多層鍍層元素的厚度,同時(shí)也可以分析鍍層金屬元素的成分。
日立&牛津 的測(cè)量和分析儀器廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域,可滿足客戶對(duì)高精度、高可靠性測(cè)量和操作簡(jiǎn)便的需求。我們通過專業(yè)的咨詢服務(wù)為客戶提供佳的解決方案,即從接觸開始,不斷溝通,直至達(dá)到定制化服務(wù)的理念。這些緊密合作與我們的創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)力不斷結(jié)合,為形成新的測(cè)量解決方案奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。