omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀?作先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，*解決了*以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀?傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。