90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀

 90Plus Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀，粒度測量采用動態(tài)光散射原理，是一種準(zhǔn)確、快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。Zeta電位測量采用電泳光散射原理，帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產(chǎn)生頻率漂移(多普勒頻移),采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關(guān)器（digital correlator）

技術(shù)處理脈沖信號，將光強的波動轉(zhuǎn)化為相關(guān)函數(shù)。自相關(guān)函數(shù)包含了懸浮顆粒或者溶液中高分子的擴散速度信息，進而利用Stokes－Einstein方程計算得出粒子的擴散系數(shù)和粒子粒徑Rh及其分布

1.  90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀擁有522個物理通道，相當(dāng)于超過10¹⁰個線性通道，25nS-1310S動態(tài)采樣時間及延遲時間分配，支持互相關(guān)測量，支持多路信號輸入（詳見相關(guān)資料）。

2.   采用35mW大功率固體激光器，在保證穩(wěn)定性的同時有效地提高了信噪比，更加有利于對極小粒度及極稀體系的測量(如圖1)。由于光束的良好聚焦，不會對體被測體系造成熱運動影響，同時保證了更小的散射體積。

3.   90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據(jù)客戶實際實驗要求選則。APD以其高靈敏度適用于納米顆粒的測量；PMT檢測器以其良好的線性范圍適合測量分布較寬的樣品體系。

4.   樣品池溫度控制范圍: -5 to 110℃±0.1℃。