UCD-60PA 合成孔徑相控陣超聲波探傷儀

一、UCD-60PA合成孔徑相控陣的詳細介紹

UCD-60PA合成孔徑相控陣超聲波探傷儀使用經(jīng)典相控陣（PA）轉(zhuǎn)換器，通過合成孔徑（SAFT）方法對信號進行全聚焦數(shù)字化處理，合成孔徑SAFT技術(shù)與相控陣的研發(fā)成功，標志著超聲波相控陣技術(shù)步入新的**里程碑。 該方法突破了傳統(tǒng)超聲成像系統(tǒng)方位分辨率的概念，實現(xiàn)了小孔徑的實際基元換能器和較低的工作頻率，對位于遠處的目標物作具有高分辨率的檢測、即：以小孔徑系統(tǒng)達到大孔徑系統(tǒng)的分辨率。 該系統(tǒng)采用標準16晶片相控陣技術(shù)，實時快速顯示被測工件內(nèi)部界面圖像，具有高分辨、可視化、實時顯示特點。

二、UCD-60PA合成孔徑相控陣的系統(tǒng)特點

便攜性強

重量：僅為1.4千克，

防護等級高：防護等級可達IP65;

  環(huán)境適應(yīng)能力強：

l  工作溫度范圍：-30℃至55℃；

l  鋰電池供電：可達10小時；

l  具有特別設(shè)計的防震保護殼體。

探頭通用性強： 采用標準16晶片相控陣探頭，使用可替換的斜鍥，以避免轉(zhuǎn)換器本身的磨損和控制任何曲面。

圖像凍結(jié)及全屏無失真顯示；

自動缺陷跟蹤功能；

TCG曲線及靈敏度調(diào)整功能；

 應(yīng)用多樣化：

l  合成孔徑全聚焦相控陣；

l  常規(guī)超聲檢測；

l  TOFD檢測。

多種顯示模式：A掃、B掃、C掃、S掃、L掃和TOFD；

可連接單軸或雙軸編碼器，并可通過編碼器記錄信號，直接在儀器或PC觀察結(jié)果。

  根據(jù)檢測材料的厚度和焊縫的幾何形狀，對工件結(jié)構(gòu)進行構(gòu)造。

  缺陷及C掃描顯示