ZJD-A型 陶瓷材料介質(zhì)損耗測(cè)試儀
| 參考價(jià) | ￥ 35000 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱(chēng) 北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) ZJD-A型
- 產(chǎn)地 北京懷柔區(qū)橋梓鎮(zhèn)興橋大街1號(hào)南樓
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2019/11/4 23:28:47
- 訪問(wèn)次數(shù) 545
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介電常數(shù)測(cè)試儀，電壓擊穿試驗(yàn)儀，熱變形維卡軟化溫度測(cè)定儀，熔體流動(dòng)速率測(cè)定儀，表面體積電阻率測(cè)定儀，氧指數(shù)測(cè)定儀，水平垂直燃燒試驗(yàn)機(jī)，漏電起痕試驗(yàn)儀，灼熱絲試驗(yàn)儀，塑料滑動(dòng)摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)，電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)
| 價(jià)格區(qū)間 | 2萬(wàn)-5萬(wàn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
儀器型號(hào)：ZJD-A ZJD-B ZJD-C 儀器名稱(chēng)：介電常數(shù)測(cè)試儀 陶瓷材料介質(zhì)損耗測(cè)試儀 陶瓷材料介電性能測(cè)試儀
GB/T5594陶瓷材料介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法
陶瓷材料介質(zhì)損耗測(cè)試儀角正切值(tanδ)是表示在某一頻率交流電壓作用下介質(zhì)損耗的參數(shù)。所謂介質(zhì)損耗即是單位時(shí)間內(nèi)消耗的電能。
由陶瓷材料制成的元器件，當(dāng)它工作時(shí)，交變電壓加在陶瓷介質(zhì)上，并通過(guò)交變電流，這時(shí)陶瓷介質(zhì)連同與其相聯(lián)系的金屬部分，可以看成有損耗的電容器，并可用一個(gè)理想電容器和一個(gè)純電阻器并聯(lián)或串聯(lián)的電路來(lái)等效，如圖1所示。電壓和電流的相位關(guān)系可用圖2表示。
a.并聯(lián)等效電路 b.串聯(lián)等效電路
圖1 有損耗電容器的等效電路
a.并聯(lián)電路矢量圖 b.串聯(lián)電路矢量圖
圖2 有損耗電容器的矢量圖
由圖可知，δ角的意義可描述為：有損耗電容器電流和電壓之間相位差與理想電容器（無(wú)損耗
根據(jù)定義，在1MHz測(cè)量tanδ，可利用諧振電路、平衡或不平衡電橋以及其他原理。
2.1 試樣應(yīng)符合GB 5593—85《電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料》的規(guī)定。
2.2 試樣應(yīng)進(jìn)行清洗干燥處理。
2.3 試樣在正常試驗(yàn)大氣條件下放置不少于24h。
3.1 測(cè)量?jī)x器
可采用直讀式損耗表、高頻Q表、高頻電橋及高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x等儀器。測(cè)量回路的Q值應(yīng)大于200。
3.2 加熱爐
爐內(nèi)溫度應(yīng)均勻?？捎米詣?dòng)或手動(dòng)方式進(jìn)行控溫，控溫范圍為室溫至500℃。在控溫范圍內(nèi)任一個(gè)溫度值，在10min內(nèi)溫度波動(dòng)不大于±1℃。
3.3 夾具
可采用圖3所示的三種形式中的任一種夾具。圖3a為一對(duì)尖形電極，材料用彈性銅片鍍銀，厚0.6mm。用石英管或其他致密的高溫絕緣材料制成的絕緣子支承置于接地屏蔽盒內(nèi)。圖3b為一個(gè)尖形和一個(gè)平板形電極。圖3a為一對(duì)圓平板形電極，平板之間距離用百分表（可讀到0.01mm）顯示。圓平板直徑應(yīng)小于25mm。
3.4 連接線
連接線要盡量短，小于25cm，連接線為鍍銀銅片，寬10mm，厚0.6mm。連接線也可用屏蔽線。
可采用直按測(cè)量法和替代法兩種。當(dāng)采用直接測(cè)量法時(shí)，必須消除連接線和試樣夾具等分布參數(shù)的影響。
測(cè)量電路的分布參數(shù)可用圖4表示，圖中LS、RS為與試樣串聯(lián)的連接線、夾具等的等效電感及電阻，CP、RP為與試樣并聯(lián)的連接線、夾具等的等效電容及電阻。當(dāng)LS、RS很小，且可忽略時(shí)，或當(dāng)CP <CX，RP>RX時(shí)，試樣的介質(zhì)損耗角正切值可用下式計(jì)算：
a.尖形電極 b.尖對(duì)平板形電極
c.平板形電極
圖3 測(cè)量夾具類(lèi)型示意圖
1—連接線；2—熱電偶；3—屏蔽盒；4—加熱絲；5—石英管；6—保溫層；
7—夾具；8—試樣；9—爐體；10—百分表；11—通波紋管
圖4 連接線、夾具和試樣的等效電路
圖5 測(cè)量設(shè)備連接示意圖
A—測(cè)量?jī)x器；B—控溫加熱爐；C—夾具和試樣
注：當(dāng)采用平板形電極夾具時(shí)，在測(cè)量C0時(shí)應(yīng)保持電極距離等于試樣厚度。
當(dāng)采用替代法時(shí)，由于在兩次測(cè)量中分布參數(shù)的影響已消除，故不必再對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正。
5.1 按圖5連接測(cè)量?jī)x器和裝置
5.2 控制加熱爐升溫至所需溫度，保溫10min，夾具中不帶試樣，測(cè)出0、tanδ（或C1、Q1）。當(dāng)釆用平板形電極夾具時(shí)，應(yīng)調(diào)整電極之間距離等于試樣厚度。
5.3 將準(zhǔn)備好的試樣放入測(cè)量夾具中，在同一溫度下保溫10min，測(cè)出C、tanδ（或C2、Q2）。
5.4 按所用儀器相應(yīng)的公式或修正公式（1）計(jì)算試樣的tanδ。
當(dāng)采用上述原理、方法和步驟進(jìn)行測(cè)量時(shí)，由連接線和夾具引入的誤差很小，可以忽略。測(cè)量的總誤差取決于所選用的測(cè)量?jī)x器。
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