高低溫試驗箱電池測試 芯片老化實驗箱

高低溫試驗箱電池測試 芯片老化實驗箱產(chǎn)品用途:交變高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗。

高低溫試驗箱電池測試 芯片老化實驗箱

一．高低溫箱設(shè)備性能
1-1內(nèi)  尺  寸 400 *500 *400mm (W* H *D)
1-2外 尺 寸（約） 650 * 1500 *950mm ( W*H*D )
1-3溫度范圍 0、-20、-40、-60、-70℃~150 ℃ (氣冷式)
1-4降溫速率 20℃～-40 ℃ / 50  min (空載下)
1-5升溫速率 0℃～+100 ℃ /30  min(空載下)
1-6溫度穩(wěn)定度 ±0.5℃
1-7溫度偏差   ±2.0℃

產(chǎn)品特點
 原裝韓國進口LCD顯示可程式溫度控制器或進口微電腦LED數(shù)字顯示溫度控制器。
 造型美觀大方，并采用無反作用把手。操作簡便。
 外箱采用SUS304#霧面線條處理不銹鋼，內(nèi)箱采用進口高級SUS#304鏡面鋼板
 觀察窗采用高清晰度附發(fā)熱導(dǎo)電膜多層中空鋼化玻璃。
 溫度范圍：-20℃~150℃　　-40℃~150℃　-70℃~150℃
波動/均勻度：≤±0.5℃/±2℃
升溫時間：-20℃~150℃約35min-20℃~100℃約35min-20℃~100℃約60min
降溫時間：T：20℃~-20℃約35minF：20℃~-40℃約55minS：20℃~-70℃約80min
控制器：原裝韓國“TEM”M系列或日本：“OYO”P系列進口LCD顯示觸控制（按鍵式）溫濕度控制器，單點及可程式控制
 分析度：±0.1℃
傳感器：鉑電阻ＰＴ100
加熱系統(tǒng)：鎳鉻合金電加熱器
 制冷系統(tǒng)：原裝法國“泰康”牌壓縮機、風(fēng)冷式冷凝器、油分、電磁閥、干燥過濾器等
 循環(huán)系統(tǒng)：采用加長軸電機，配耐高低溫之不銹鋼多翼式風(fēng)輪
 外箱材質(zhì)：SUS#304霧面拉絲不銹鋼板
 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS#304鏡面不銹鋼板
 保溫層：聚胺脂硬質(zhì)發(fā)泡+玻璃纖維棉
 門框材質(zhì)：雙層耐高低溫硅橡膠密封條
 標(biāo)準(zhǔn)配置：多層加熱除霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔（50mm）1個
 全安保護：超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護
 電源電壓：AC380V±10% 50±1Hz三相四線制
 使用環(huán)境溫度：5℃∽+30℃≤85%R.H

良好的售后服務(wù)，讓您省心省事！

四. 高低溫箱產(chǎn)品售后服務(wù)與保固
4-1.  保證書保固一年.
五. 新機達交貴廠隨附資料
4-2.  操作說明書、維護手冊.
4-3.  保證書、保養(yǎng)記錄卡.
4-4.  人員操作使用訓(xùn)練.{免費提供}