MProbe NIR MProbe NIR薄膜測(cè)厚儀
- 公司名稱 上海全耀儀器設(shè)備有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) MProbe NIR
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/11/21 15:54:19
- 訪問次數(shù) 348
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè) |
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MProbe NIR薄膜測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量。
MProbe NIR薄膜測(cè)厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量。
測(cè)量范圍: 100 nm -200um
波長(zhǎng)范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,多層測(cè)量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過(guò)500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測(cè)量指標(biāo):薄膜厚度,光學(xué)常數(shù)
界面友好強(qiáng)大: 一鍵式測(cè)量和分析。
實(shí)用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測(cè)量,動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線批量處理。