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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>建筑材料無損檢測儀器/設(shè)備>MultiScan MS 5800 用于管材檢測的MultiScan MS 5800

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MultiScan MS 5800 用于管材檢測的MultiScan MS 5800

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海玖橫儀器有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 MultiScan MS 5800
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2024/7/7 12:27:51
  • 訪問次數(shù) 1474
產(chǎn)品標(biāo)簽

MultiScan MS 5800

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上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀:(EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go 超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀);超聲波測厚儀:(27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測厚儀,ETG-100電磁高溫測厚儀);超聲波探頭;定制相控陣探頭;渦流探傷儀:(NORTEC 600渦流探傷儀);硬度計(jì); 內(nèi)窺鏡:(IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo 工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect 工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、);脈沖發(fā)生器:(DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR);合金分析儀:(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表,

測厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,相控陣探傷儀,DR平板探測器,磁通滲透,磁通磁軛,電磁超聲測厚儀,點(diǎn)焊分析儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè)

用于管材檢測的MultiScan MS 5800是一款可利用渦流、漏磁、遠(yuǎn)場及IRIS超聲技術(shù)的多技術(shù)檢測系統(tǒng)。

用于管材檢測的MultiScan MS 5800是一種多技術(shù)檢測系統(tǒng),可提供以下技術(shù):

  • 渦流

  • 漏磁

  • 遠(yuǎn)場

  • IRIS超聲

  • 利用渦流檢測技術(shù)(ECT)對管材進(jìn)行檢測

  • 使用內(nèi)置旋轉(zhuǎn)檢測系統(tǒng)(IRIS)對鐵性和非鐵性材料管材進(jìn)行檢測

  • 使用遠(yuǎn)場檢測技術(shù)(RFT)對管材進(jìn)行檢測

  • 使用近場檢測技術(shù)(NFT)對管材進(jìn)行檢測

  • 使用漏磁檢測技術(shù)(MFL)對管材進(jìn)行檢測

MS 5800E 
利用渦流檢測技術(shù)(ECT)對管材進(jìn)行檢測

MS 5800

  • 冷凝器

  • 給水加熱器

  • 熱交換器

  • 空氣調(diào)節(jié)器

渦流圖

渦流檢測以一種非接觸方式對非鐵磁性管材進(jìn)行檢測。這種技術(shù)適用于探測和定量非鐵性金屬材料中的腐蝕、侵蝕、磨損、點(diǎn)蝕、折流板切口、壁厚損失,以及裂縫等不連續(xù)性缺陷。

渦流圖

  • 兩個(gè)線圈受電流激勵(lì)后在線圈周圍產(chǎn)生磁場。磁場穿過管件材料,在材料中產(chǎn)生相反的交流電。這些電流被稱作渦流。

  • 任何使渦流改變的缺陷也會改變探頭中線圈的阻抗。

  • 對線圈阻抗的變化進(jìn)行測量,并利用這些變化探測管件中的缺陷。

MS 5800的計(jì)算機(jī)屏幕

MultiScan MS 5800E的主要特性

  • 每個(gè)輸入可同時(shí)使用4種頻率 
    在獨(dú)立和差分通道上同時(shí)使用4種頻率,可使檢測速度達(dá)到每秒鐘2米,而且信號不會失真。

  • 電子探頭平衡 
    無需借助獨(dú)立的外置參考探頭即可進(jìn)行通道操作。

  • 4個(gè)ECT輸入以及多64個(gè)多路轉(zhuǎn)換通道 
    MultiScan MS 5800E可支持大量的ECT通道,因此可以進(jìn)行陣列探頭檢測。與單通道檢測相比,陣列探頭技術(shù)可進(jìn)行更為快速、方便的表面覆蓋掃查。

MS 5800U 
使用內(nèi)置旋轉(zhuǎn)檢測系統(tǒng)(IRIS)對鐵性和非鐵性材料管材進(jìn)行檢測

MS 5800

  • 鍋爐

  • 給水加熱器

  • 空氣冷卻器

  • 熱交換器

IRIS

超聲IRIS選項(xiàng)用于檢測包括鐵性、非鐵性及非金屬材料在內(nèi)的各種材料制成的管件。這種技術(shù)探測和定量因腐蝕、侵蝕、磨損、點(diǎn)蝕、裂縫、折流板切口造成的管壁損失的情況。奧林巴斯數(shù)字式IRIS檢測技術(shù),作為一項(xiàng)已經(jīng)過驗(yàn)證的技術(shù),廣泛應(yīng)用于遠(yuǎn)場、漏磁以及渦流檢測中。 

IRIS

MultiScan MS 5800U(IRIS)的主要特性

  • 設(shè)置向?qū)?/strong> 
    針對不同直徑和材料的管件,設(shè)置向?qū)Ш喕嗽O(shè)備的校準(zhǔn)過程。向?qū)н€為每個(gè)檢測生成報(bào)告編碼。

  • 實(shí)時(shí)增益和閘門控制 
    可在C掃描采集數(shù)據(jù)的過程中改變UT設(shè)置,從而快速優(yōu)化信號探測性能。

  • 實(shí)時(shí)、連續(xù)的彩色C掃描 
    使用C掃描顯示,可以減少漏報(bào)缺陷的失誤。在報(bào)告中插入缺陷的彩色圖像及橫截面視圖,提高了報(bào)告的質(zhì)量,增加了可讀性。

  • 完整的管件全長檢測記錄 
    用于在離線狀態(tài)下,與客戶一起分析數(shù)據(jù)并評估結(jié)果。

MS 5800R 
使用遠(yuǎn)場檢測技術(shù)(RFT)對管材進(jìn)行檢測

MS 5800

  • 鍋爐

  • 給水加熱器

  • 碳鋼熱交換器

遠(yuǎn)場檢測

遠(yuǎn)場檢測(RFT)技術(shù)目前被成功地應(yīng)用于碳鋼或鐵素體不銹鋼等鐵磁性材料的管件檢測中。這種技術(shù)在探測和測量源于侵蝕、腐蝕、磨損和折流板切口的體積型缺陷時(shí),具有靈敏度。

奧林巴斯的遠(yuǎn)場探頭和MultiScan MS 5800,在世界各地被成功地應(yīng)用于熱交換器、給水加熱器、鍋爐管件的檢測。

MultiScan MS 5800R的主要特性(RFT)

  • RFT多可使用4種不同的頻率,并且可進(jìn)行實(shí)時(shí)混頻。 
    這個(gè)特性增加了混頻及缺陷確認(rèn)的靈活性。通過多頻檢測和雙驅(qū)動(dòng)器操作,可更容易地探測和定量載板上的缺陷。

  • RFT的頻率范圍為20 Hz ~ 250 kHz。 
    MultiScan MS 5800R的高頻功能可將遠(yuǎn)場檢測(RFT)技術(shù)應(yīng)用于磁導(dǎo)率較低的薄材料檢測,如:400系列不銹鋼和其它鐵磁性合金材料。

使用近場檢測技術(shù)(NFT)對管材進(jìn)行檢測

  • 空氣冷卻器

  • 碳鋼熱交換器

近場檢測

近場檢測(NFT)技術(shù)是一種專為翅扇式碳鋼管材檢測量身定做的快速、經(jīng)濟(jì)的解決方案。這種新技術(shù)依靠一款簡單的驅(qū)動(dòng)器-拾波器渦流探頭設(shè)計(jì),可使信號分析簡便易行。

近場檢測技術(shù)特別適用于探測碳鋼管件內(nèi)壁的腐蝕、侵蝕或點(diǎn)蝕。近場檢測探頭測量到提離值或“填充系數(shù)”后,將此值轉(zhuǎn)換為以波幅為基礎(chǔ)的信號(無需相位分析)。由于渦流的滲透深度僅限于管件的內(nèi)表面,管件外表面上的翅式形狀不會對近場檢測探頭產(chǎn)生影響。

MultiScan MS 5800 R 
使用漏磁技術(shù)(MFL)對管材進(jìn)行檢測

  • 給水加熱器

  • 空氣冷卻器

  • 碳鋼熱交換器

漏磁技術(shù)

漏磁(MFL)是一種快速檢測技術(shù),適用于測量壁厚損失,以及探測點(diǎn)蝕、切槽及周向裂縫等較為明顯的缺陷。使用漏磁(MFL)技術(shù)檢測鋁翅片碳鋼管件非常有效,因?yàn)榇艌龌静皇苓@些翅片的影響。

技術(shù)規(guī)格

一般規(guī)格
電源120 VAC或220 VAC±10%,自動(dòng)選擇,48 Hz ~ 63 Hz。
尺寸(不含提手)45 cm x 30 cm x 22 cm
重量安裝所有模塊后的大重量為12.8 kg。
環(huán)境工作環(huán)境溫度為-20°C ~ 45°C;存儲溫度為-20 °C ~ 70 °C;相對濕度為95 %,無冷凝
計(jì)算機(jī)接口100Base-T快速以太網(wǎng)
渦流檢測
探頭輸入4個(gè)獨(dú)立的差分輸入,以及在使用MUX-PKG-MS (U8780060)時(shí)多64個(gè)多路轉(zhuǎn)換輸入(16個(gè)時(shí)隙)。
渦流檢測通道同時(shí)有16個(gè)(4個(gè)輸入 × 4個(gè)頻率); 
在超多路轉(zhuǎn)換模式下有256個(gè)(帶有16個(gè)時(shí)隙)。
頻率數(shù)量多8個(gè)頻率
頻率范圍20 Hz ~ 6 MHz,可調(diào)。
采集率每個(gè)通道為40 kHz(常規(guī)模式下); 
將14 kHz根據(jù)時(shí)隙數(shù)量等分(多路轉(zhuǎn)換模式下)。
所支持的探頭儀器的通用接口支持所有標(biāo)準(zhǔn)的差分和線圈式探頭、阻抗式探頭、發(fā)送接收式探頭,以及旋轉(zhuǎn)探頭。 
(可能需要適配器線纜)
探頭平衡真正通過電子方式完成的探頭平衡。針對通道,不需要獨(dú)立的外置參考探頭。
輸出電壓每個(gè)發(fā)動(dòng)機(jī)為20 Vp-p(2個(gè)輸出)
輸出電流1 A(峰值)
實(shí)時(shí)報(bào)警8個(gè)獨(dú)立報(bào)警(僅原始通道)
編碼器2個(gè)正交編碼器和數(shù)字輸入
遠(yuǎn)場檢測、近場檢測和漏磁檢測
探頭輸入4個(gè)用于遠(yuǎn)場檢測/近場檢測的獨(dú)立輸入; 
4個(gè)用于漏磁檢測的獨(dú)立輸入。
遠(yuǎn)場/近場檢測通道同時(shí)有16個(gè)(4個(gè)輸入 × 4個(gè)頻率); 
近場檢測的多路轉(zhuǎn)換模式下有64個(gè)通道(4個(gè)輸入 × 16個(gè)時(shí)隙),遠(yuǎn)場檢測有8個(gè)通道(4個(gè)輸入 × 2個(gè)時(shí)隙)
漏磁檢測通道同時(shí)有4個(gè)
在多路轉(zhuǎn)換模式下有64個(gè)(4個(gè)輸入 × 16個(gè)時(shí)隙)。
頻率數(shù)量多4個(gè)頻率(僅遠(yuǎn)場檢測)
頻率范圍20 Hz ~ 250 kHz,可調(diào)。
采集率每個(gè)通道為40 kHz(常規(guī)模式下); 
將14 kHz根據(jù)時(shí)隙數(shù)量等分(多路轉(zhuǎn)換模式下)。
所支持的探頭支持所有帶單勵(lì)磁器、雙勵(lì)磁器、雙拾波器,以及使用近場技術(shù)和漏磁技術(shù)的差分式和式探頭。 
(可能需要適配器線纜)
探頭平衡真正通過電子方式完成的探頭平衡。
輸出電壓每個(gè)發(fā)動(dòng)機(jī)為20 Vp-p(2個(gè)輸出)
輸出電流1 A(峰值)
模擬輸出一個(gè)輸入的X值和Y值。
實(shí)時(shí)報(bào)警8個(gè)獨(dú)立報(bào)警(僅原始通道)
編碼器2個(gè)正交編碼器和數(shù)字輸入。
超聲IRIS檢測
脈沖發(fā)生器/接收器的數(shù)量在脈沖回波模式下為1個(gè)通道。
系統(tǒng)帶寬0.5 MHz ~ 25 MHz
采樣速率8比特,100 MHz
探頭頻率1 MHz ~ 20 MHz
脈沖重復(fù)頻率大為20 kHz。
動(dòng)態(tài)增益(線性放大器)70 dB,步距為1 dB。
A掃描長度32 ~ 8092點(diǎn)
脈沖電壓50 V ~ 300 V,步距為1 V。
高通濾波器無、2 MHz、5 MHz、10 MHz
數(shù)據(jù)采集同步時(shí)間、連續(xù)、位置或外部
編碼器2個(gè)正交編碼器和數(shù)字式輸入(要求MultiView 6.1或更高版本)。

 

軟件特性

 

EC/RFT/MFL/UT
設(shè)置向?qū)?/span>可輕松配置利用常規(guī)探頭進(jìn)行的管材檢測。
自動(dòng)校準(zhǔn)同時(shí)校準(zhǔn)所有通道和深度曲線。
數(shù)據(jù)文件存儲可使用任何與PC機(jī)兼容的媒介。
打印可在任何與Microsoft Windows XP兼容的打印機(jī)上打印屏幕轉(zhuǎn)儲、采集數(shù)據(jù)和設(shè)置報(bào)告。
UT
測量模式壁厚:IRIS(水浸)
設(shè)置顯示A掃描


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  • 使用方法說明書、售后服務(wù)
  • 其他
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