合肥科晶 M-3手持式四探針測(cè)試儀

合肥科晶 M-3手持式四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品概述：

M-3手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價(jià)比測(cè)量?jī)x器。廣泛適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。

合肥科晶 M-3手持式四探針測(cè)試儀產(chǎn)品特征：

• 測(cè)試儀由M-3型主機(jī)和四探針探頭兩部分組成

• 手持式設(shè)計(jì)，帶完善厚度、形狀修正功能，測(cè)試精準(zhǔn)

• 寬量程：超寬五個(gè)檔位，相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程

• 操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換，LED數(shù)字表頭顯示

• 多款探頭可選，適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測(cè)試

工作電源：

• 208-240V，50/60Hz

• 電池供電：DC3.7V

探頭：

• 根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配

碳化鎢探針探頭（固體材料）：測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料

球形或平頭鍍金銅合金探針探頭（薄膜）：可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層

• 探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差

選配：可選配快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái)，對(duì)測(cè)試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測(cè)試，提高測(cè)試的精確度

測(cè)量范圍、分辨率：

• 電阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω

• 電阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm

• 方塊電阻：0.050～100.00kΩ/m2  分辨率0.001～10Ω/m2

基本誤差：±1%FSB±2LSB

外形尺寸：210mm L × 100mm W × 36mm H

凈重：0.3kg