HCRD-300 計(jì)算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測(cè)試儀

計(jì)算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測(cè)試儀

產(chǎn)品簡介：

儀器采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對(duì)話方式。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。電氣用塑料薄膜的生產(chǎn)過程中，會(huì)出現(xiàn)薄膜穿孔、導(dǎo)電顆粒積聚、劃傷等影響電氣的電弱點(diǎn)。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。設(shè)計(jì)的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生 過程中極易引起縱向劃傷，該儀器引用“電 弱線”概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電流均超過1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線”，測(cè)試儀統(tǒng) 計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和，這樣的測(cè)試數(shù)據(jù)史能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)顯水平， 且有助于分析生產(chǎn)過程中存在的問題，從而有針對(duì)地提出解決問題的方案。

主要特點(diǎn):

1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

2、測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

3、主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

4、測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。

5、測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。

6、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。

7、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。

8、過壓、過流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。

計(jì)算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測(cè)試儀

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 13542-2009《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》

IEC 60674-2:1988《電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置》

JB 3282《固體絕緣材料相對(duì)耐表面放電擊穿試驗(yàn)方法》

主要配件生產(chǎn)廠家：

變壓器：武高所監(jiān)制

控制系統(tǒng)：PLC

升壓系統(tǒng):spwm華測(cè)

繼電器：施耐德

電流傳感器：華測(cè)開發(fā)

電壓傳感器：松野

過壓、過流系統(tǒng)： 華測(cè)開發(fā)

TVS防護(hù)：華測(cè)開發(fā)

儀器參數(shù)

多防護(hù)

TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：

低通濾波電流監(jiān)測(cè)技術(shù):

雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：

2500VDC電氣隔離

2500VDC電氣隔離，靜電等級(jí)接觸放電±8KV

試驗(yàn)方便   一機(jī)多用

高試驗(yàn)儀器可以測(cè)量交流電壓、直流電壓下的材料電弱點(diǎn)

主營產(chǎn)品

公司主營產(chǎn)品： 幾大系列： 介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀（電壓擊穿試驗(yàn)儀）、表面體積電阻率測(cè)度儀、電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、萬能材料試驗(yàn)機(jī)、薄膜沖擊試驗(yàn)機(jī)、靜電系列、落錘式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)、馬丁耐熱試驗(yàn)儀