Q8344A 光譜分析儀
- 公司名稱 深圳市晧辰電子科技有限公司
- 品牌 ADCMT/愛德萬
- 型號(hào) Q8344A
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/11/28 15:25:45
- 訪問次數(shù) 1105
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網(wǎng)絡(luò)分析儀、無線綜合測(cè)試儀、邏輯分析儀、阻抗分析儀、信號(hào)源、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、中高檔示波器
按探測(cè)器 | 其它 | 光譜范圍 | 可見 |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
產(chǎn)品描述:
Q8344A 是 Advantest 的光學(xué)分析儀。光譜分析儀又稱光分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)控規(guī)定波長范圍內(nèi)的功率分布。它在圖表中顯示測(cè)量值,其中功率是垂直刻度,波長是水平刻度。
Advantest Q8344A 使用基于邁克爾遜干涉儀的傅立葉頻譜分析方法。因此,Q8344A 可以測(cè)量光學(xué)相干性,而這種光學(xué)相干性是使用衍射型光譜分析儀無法直接獲得的,而衍射型光譜分析儀使用單色儀進(jìn)行測(cè)量。
350 納米至 1750 納米
邁克爾遜干涉儀類型測(cè)量
直接相干長度測(cè)量
快速掃描
Q8344A 的規(guī)格:
輸入光纖:9/125 µm 和 50/125 µm
波長范圍:350-1750 nm
波長分辨率設(shè)置:0.05 at 850 nm 和 0.1 at 1310 nm
波長精度:± 0.1 nm
等級(jí)范圍:-70 至 +10 dBm (700-1600 nm)
-60 至 +10 dBm (450-1700 nm)
-45 至 +10 dBm (350-1750 nm)
電平精度:± 2.0 dB (850/1310 nm)
掃描時(shí)間:1.5 秒(400-1050 nm、800-1750 nm)
接口通訊:GPIB