ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測量儀

ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測量儀

ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測量儀特點

• 此手持式儀器測量氧化膜的導納（Y），符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標準。 測量范圍為 3 – 200 μS，測量槽直徑為 13 mm
• 通過可選的精準電子參考物質校準儀器

ANOTEST YMP30-S鋁陽極氧化膜密閉性測試儀典型應用領域

• 該儀器極適合快速簡便的對鋁材上的陽極氧化膜密閉性進行現(xiàn)場測量。 涂層的耐氣候性取決于導納（Y）

ANOTEST YMP30-S鋁陽極氧化膜密閉性測試儀特性:

-大液晶屏
-電池或AC電源操作
-插入探針后自動開始測量
-自動計算轉換為標準尺寸的導納
-密封較差時也可以測試(如，Y > 15μS)
-可聲控測量開始和結束
-自動關閉
-可存儲100個測量應用程序10000余組數(shù)據(jù)
-具有統(tǒng)計分析功能
-可選8種顯示語言
-RS232接口,用于連接打印機和電腦

ANOTEST YMP30-S鋁上陽極氧化膜密閉性測試儀技術參數(shù)：

測量頻率:1KHz(DIN EN ISO 12373 - 5)

量程范圍：

    測試槽直徑6毫米(1):14 - 1400μS

    測試槽直徑13毫米:3 - 200μS

    測試槽直徑26毫米(1):0.75 - 75μS

電源:電池9v，6*LR61

儀器尺寸(L x W x H):160 mm x 80 mm x 30毫米

質量:230克

(注)在應用測試槽直徑6毫米和26毫米時，由于因為測試區(qū)域太小或者太大，所以不能進行標準化測量。