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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>熱分析儀器>導(dǎo)熱儀/熱導(dǎo)儀>TCN-2ω 納米薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)

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TCN-2ω 納米薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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  • 我們是誰(shuí)

    美國(guó)Quantum Design公司是科學(xué)儀器制造商，其研發(fā)生產(chǎn)的系列磁學(xué)測(cè)量系統(tǒng)及綜合物性測(cè)量系統(tǒng)已成為業(yè)內(nèi)進(jìn)的測(cè)量平臺(tái)，廣泛分布于全球材料、物理、化學(xué)、納米等研究域的科研實(shí)驗(yàn)室。Quantum量子科學(xué)儀器貿(mào)易（北京）有限公司(暨Quantum Design中國(guó)子公司) 成立于2004年，是美國(guó)Quantum Design公司設(shè)立的諸多子公司之，在全權(quán)負(fù)責(zé)美國(guó)Quantum Design公司本部產(chǎn)品在中國(guó)的銷售及售后技術(shù)支持的同時(shí)，還致力于和范圍內(nèi)物理、化學(xué)、生物域的科學(xué)儀器制造商進(jìn)行密切合作，幫助中國(guó)市場(chǎng)引進(jìn)更多全球范圍內(nèi)的質(zhì)設(shè)備和技術(shù)，助力中國(guó)科學(xué)家的項(xiàng)目研究和發(fā)展。

  • 我們的理念

    Quantum Design中國(guó)的長(zhǎng)期目標(biāo)是成為中國(guó)與進(jìn)行進(jìn)技術(shù)、進(jìn)儀器交流的重要橋頭堡。助力中國(guó)科技發(fā)展的十幾年中，Quantum Design中國(guó)時(shí)刻保持著積進(jìn)取、不忘初心、精益求精的態(tài)度，為中國(guó)科學(xué)家提供更質(zhì)的科學(xué)和技術(shù)支持。隨著中國(guó)科學(xué)在舞臺(tái)變得愈加舉足輕重，Quantum Design中國(guó)將繼續(xù)秉承“For Scientist, By Scientist”的理念，助力中國(guó)科技蓬勃發(fā)展，助力中國(guó)科技在騰飛！

  • 我們的團(tuán)隊(duì)

    Quantum Design中國(guó)擁有支具備強(qiáng)大技術(shù)背景、職業(yè)化工作作風(fēng)的團(tuán)隊(duì)，并致力于培養(yǎng)并引進(jìn)更多博士業(yè)技術(shù)人才。目前公司業(yè)務(wù)團(tuán)隊(duì)高學(xué)歷業(yè)碩博人才已占比超過(guò)70%以上，高水平人才的不斷加入和日益密切的團(tuán)隊(duì)配合幫助QD中國(guó)實(shí)現(xiàn)連續(xù)幾年銷售業(yè)績(jī)的持續(xù)增長(zhǎng)

  • 我們的服務(wù)


  • Quantum Design中國(guó)擁有完善的本地化售前、售中和售后服務(wù)體系。國(guó)內(nèi)本地設(shè)有價(jià)值超過(guò)50萬(wàn)美元的備件庫(kù)，用于加速售后服務(wù)響應(yīng)速度；同時(shí)設(shè)有超過(guò)300萬(wàn)美元的樣機(jī)實(shí)驗(yàn)室，支持客戶對(duì)設(shè)備進(jìn)行進(jìn)步體驗(yàn)和深度了解。 “不僅提供超的產(chǎn)品，還提供超的售后服務(wù)”這將是Quantum Design中國(guó)區(qū)別于其他科研儀器供應(yīng)商的重要征，也正成為越來(lái)越多科學(xué)工作者選擇Quantum Design中國(guó)的重要原因。



PPMS，MPMS，低溫磁學(xué)，表面成像，樣品制備，生命科學(xué)儀器

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 熱線法 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,電子,交通,冶金,綜合

納米薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)-TCN-2ω

薄膜材料的熱導(dǎo)率評(píng)價(jià)將變得為簡(jiǎn)便

 

    日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)是使用2ω方法測(cè)量納米薄膜厚度方向熱導(dǎo)率的商用系統(tǒng)。與其他方法相比，樣品制備和測(cè)量為簡(jiǎn)單。

點(diǎn)：

1. 在納米尺度衡量薄膜的熱導(dǎo)率

開發(fā)出監(jiān)測(cè)周期加熱過(guò)程中熱反射帶來(lái)的金屬薄膜表面溫度變化的方法。從而通過(guò)厚度方向上的維熱導(dǎo)模型計(jì)算出樣品表面的溫度變化，為簡(jiǎn)便的衡量厚度方向上熱導(dǎo)率。（日本li：5426115）

2. 樣品制備簡(jiǎn)單

不需要光刻技術(shù)即可將金屬薄膜（1.7mm×15mm×100nm）沉積在薄膜樣品上。

 

應(yīng)用方向

1. 熱設(shè)計(jì)用薄膜熱導(dǎo)率評(píng)價(jià)的選擇。

low-k薄膜，有機(jī)薄膜，熱電材料薄膜

2. 可用于評(píng)價(jià)熱電轉(zhuǎn)換薄膜

 

測(cè)量原理

當(dāng)    使用頻率為f的電流周期加熱金屬薄膜時(shí)，熱流的頻率將為電流頻率的2倍（2f）。如果樣品由金屬薄膜（0）-樣品薄膜（1）-基體（s）組成（如圖），可由維熱導(dǎo)模型計(jì)算出金屬薄膜上表面的溫度變化T(0)。

 

假設(shè)熱量全部傳導(dǎo)到基體，則T(0)可由下式計(jì)算：

（λ/Wm-1K-1，C/JK-1m-3，q/Wm-3，d/m，ω（=2πf）/s-1）

 

式中實(shí)部（同相振幅）包含樣品薄膜的信息。如熱量全部傳導(dǎo)到基體，則同相振幅正比于(2 ω)0.5，薄膜的熱導(dǎo)率（λ1）可由下式給出：

（m：斜率，n：截距）

 

設(shè)備參數(shù)

1. 測(cè)試溫度：室溫

2. 樣品尺寸：長(zhǎng)10～20mm，寬10mm

                      厚0.3～1mm（含基體）

3. 基體材料：Si（推薦）

                      Ge，Al2O3（高熱導(dǎo)率）

4. 樣品制備：樣品薄膜上需沉積金屬薄膜（100nm）

                     （推薦：金）

5. 薄膜熱導(dǎo)率測(cè)量范圍：0.1～10W/mK

6. 測(cè)試氛圍：大氣

 

 

設(shè)備概念圖

樣品準(zhǔn)備

測(cè)試數(shù)據(jù)

Si基底上的SiO2薄膜（20-100nm）測(cè)量結(jié)果

d1 / nm       19.9      51.0      96.8   
λ1/ W m-1 K-1       0.82      1.03      1.20   

 

發(fā)表文章

1. K. Mitarai et al. / J. Appl. Phys. 128, 015102 (2020) 

2. M. Yoshiizumi et al. / Trans. Mat. Res. Soc. Japan 38[4] 555-559 (2013)



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