ZK-ESS-225L 快速溫變濕熱試驗(yàn)箱

快速溫變濕熱試驗(yàn)箱用途介紹

設(shè)備通過溫變速率為5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min，對(duì)通訊器材、光電組件、汽車配套、航空航天、新型材料等產(chǎn)品在高溫變的情況下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行冷熱快速循環(huán)試驗(yàn)、高低溫快速溫變?cè)囼?yàn)、高低溫交變?cè)囼?yàn)、高低溫循環(huán)試驗(yàn)、高低溫恒溫試驗(yàn)、高溫恒定試驗(yàn)、低溫恒定試驗(yàn)、高低溫交變濕熱試驗(yàn)、濕熱循環(huán)試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)、高溫高濕試驗(yàn)、高溫中濕試驗(yàn)、高溫低濕試驗(yàn)、低溫中濕試驗(yàn)、低溫低濕試驗(yàn)等環(huán)境應(yīng)力篩選，檢驗(yàn)其產(chǎn)品各項(xiàng)性能指標(biāo)有無變化和預(yù)知產(chǎn)品耐變性，可選擇線性溫變與非線性溫變，中科測(cè)試設(shè)備提供具備溫濕度綜合性能的快速溫變?cè)囼?yàn)箱。

快速溫變濕熱試驗(yàn)箱的溫度和環(huán)境濕度，是影響設(shè)備特性的關(guān)鍵要素，其能夠造成機(jī)械零部件的生銹，使金屬材料鏡面玻璃的光滑度降低，造成高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱一部分的偏差或特性降低;導(dǎo)致高低溫試驗(yàn)箱電子光學(xué)構(gòu)件如光纖傳感器、反射鏡片、聚光鏡等的鋁膜生銹，造成聚光不夠、雜散光眼、噪音等，乃至儀器設(shè)備停止工作，進(jìn)而影響高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的使用壽命，維修保養(yǎng)時(shí)要按時(shí)多方面校準(zhǔn)。是指對(duì)樣品接解到的可能導(dǎo)致過早故障的氣候、熱力或機(jī)械應(yīng)力進(jìn)行篩查的方法，比如：可以發(fā)現(xiàn)電子模埠設(shè)計(jì)、料材或生產(chǎn)中的缺點(diǎn)。應(yīng)力篩選技術(shù)可以在研制和生產(chǎn)階段發(fā)現(xiàn)早期故障，減少由于設(shè)計(jì)選型錯(cuò)誤或制程工藝不良引起失敗的風(fēng)險(xiǎn)，大大提高產(chǎn)品可靠性。通過環(huán)境應(yīng)力篩選可以找出已經(jīng)進(jìn)入生產(chǎn)測(cè)試階段的不可靠的系統(tǒng)。它已經(jīng)作為質(zhì)量改進(jìn)的一種標(biāo)準(zhǔn)方法，有效延長(zhǎng)產(chǎn)品的正常工作壽命。 

工作環(huán)境中的塵埃，和腐蝕性氣體亦可以影響機(jī)械系統(tǒng)的靈活性、降低各種限位開關(guān)、按鍵、光電偶合器的可靠性，也是造成必須學(xué)部件鋁膜銹蝕的原因之一。使用一定周期后，內(nèi)部會(huì)積累一定量的塵埃，在工程師指導(dǎo)下定期開啟高低溫試驗(yàn)箱外罩對(duì)內(nèi)部進(jìn)行除塵工作，同時(shí)將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固，對(duì)光學(xué)盒的密封窗口進(jìn)行清潔，必要時(shí)對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)，對(duì)機(jī)械部分進(jìn)行清潔和必要的潤(rùn)滑。

快速溫變?cè)囼?yàn)箱技術(shù)參數(shù)

1. 工作室容積：150L、225L、408L、800L、1000L、1500L、2000L。（可按需求定制）

2. 溫度范圍：-20℃～+150℃；-40℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。

3. 溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min（選購(gòu)：線性與非線性溫變）。

4. 溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

5. 濕度范圍: 20%～98%R.H。（選購(gòu)：5%～98%R.H或10%～98%R.H）

6. 溫度波動(dòng)度：±0.5℃。

7. 溫度均勻度：±1.5℃。

8. 濕度穩(wěn)定度：±1.0%RH。

9. 濕度均勻度：±3.0%RH。

10.承載重量：8.0kg。

11.功率：8.0KW～35.0KW。

12.設(shè)備的型號(hào)和規(guī)格選擇如下：

 型 號(hào)        內(nèi)箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L    W1000×H1000×D1000    W1300×H2150×D1650

可選非標(biāo)定制......

13.電源：AC380V（五線制） 50Hz ±5%。

14.加濕系統(tǒng)：鈦合金護(hù)套式電加熱加濕器，濕氣均勻發(fā)生裝置。

15.加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒空氣式加熱控溫。

16.制冷系統(tǒng)：*全/半封閉“泰康/比澤爾”牌壓縮機(jī)二元復(fù)疊模塊化機(jī)組制冷。

16.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。

設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

2. GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

3. GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。

4. GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)。

5. GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)。

6. GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)。

7. GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。

8. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫。

9. GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化。

10.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)。

11.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。