MM-CS 梅特勒-托利多稱重傳感器模塊

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正確稱量 — 獲得準確結(jié)果和更好稱量技術(shù)的指導原則

[“正確稱量”指南提供了如何實現(xiàn)更準確的稱量結(jié)果并避免在使用實驗室天平時出現(xiàn)錯誤的建議。]
“正確稱量”指南提供了如何實現(xiàn)更準確的稱量結(jié)果并避免在使用實驗室天平時出現(xiàn)錯誤的建議。

影響稱量準確度的因素會對整個分析的結(jié)果產(chǎn)生負面影響，因此了解使用實驗室天平時需要遵循的規(guī)則是非常重要的。

稱量是實驗室中zui 常見、關(guān)鍵、耗時的任務之一，因此，正確稱量至關(guān)重要。

除了超微量天平外，總體而言，天平已經(jīng)發(fā)展到無需特殊稱量室的程度。

電子技術(shù)的進步已大大簡化了天平的操作，可節(jié)約稱量時間。 此外，數(shù)字觸摸顯示屏使天平的操作變得更直觀。

但是，這種顯而易見的易用性可能導致不夠小心，無法避免多重因素對分析結(jié)果造成的負面影響，從而影響稱量準確度。 外部影響是指于所有實驗室天平可測的物理效應。 外部影響包括：

靜電力
氣流
環(huán)境振動
磁性效應
蒸發(fā)
吸潮

某些樣品特性也可能被誤認為是外部影響 — 例如：液體的蒸發(fā)或吸潮/吸潮性固體物質(zhì)的質(zhì)量的增加或減少。

本指南的目的是確定影響稱量準確度的zui常見因素，并解釋用實驗室天平正確稱量的基本規(guī)則。 本指南先從提供有關(guān)天平*放置位置的建議開始。 其次，解釋天平的正確操作，并分析可能的外部影響和效果。 顯示屏上緩慢的讀數(shù)變化（漂移）就是這些影響存在的證明

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梅特勒-托利多稱重傳感器模塊