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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設(shè)備>光學測量儀>激光產(chǎn)品>MDPspot 圓晶片和晶錠單點壽命檢測儀

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MDPspot 圓晶片和晶錠單點壽命檢測儀

參考價 1000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準

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WELINK位于美麗的蘇州工業(yè)園區(qū),是一家以分析檢測技術(shù)為核心的創(chuàng)新科技服務(wù)企業(yè),專為實驗室提供整體化解決方案。產(chǎn)品包括:實驗室儀器、耗材、配件、技術(shù)維護等。

 

 

熱釋光分析儀、離子色譜儀IC、X射線熒光光譜儀、元素分析儀

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 5萬-10萬
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,地礦,能源,電子,冶金 組成要素 半導體激光器產(chǎn)品及設(shè)備

 

 

  低成本的臺式壽命測量系統(tǒng),可在不同的制備階段表征各種不同的硅樣品,沒有內(nèi)置的自動化??蛇x配手動z軸,用于厚度在156毫米以下的晶錠。結(jié)果可視化的標準軟件。 
  MDPspot包括一個額外的電阻率測量選項。電阻率測量僅適用于硅,可用于沒有高度調(diào)整可能性的晶圓片,也可用于晶錠。須預(yù)定義這兩個選項之一。 

  

 

特性

· 無接觸破壞的電子半導體特性
μ-PCD測量選項
外延片不可見的缺陷和檢測的靈敏度的可視化
集成多達四個激光器適用于一個廣泛的注射水平
獲取單一瞬態(tài)的原始數(shù)據(jù)以及用于特殊評估目的的圖

優(yōu)勢

· 用于不同制備階段,從成體到終器件,多晶硅或單晶硅單點測量載流子壽命的臺式裝置。

· 體積小,成本低,使用方便。擁有一個基本的軟件,結(jié)果可視化。
適用于晶圓片到晶錠,易于高度調(diào)整。

技術(shù)參數(shù)

樣品

不同的處理步驟,如鈍化或擴散后的單晶或多晶硅晶圓、晶錠、電池、晶圓

樣品尺寸

50 x 50 mm2 到12“ 或210 x 210 mm2

電阻率

0.2 - 103 Ohm cm

材質(zhì)

硅晶圓,晶錠,部分或全部加工晶圓,復(fù)合半導體和更多其它類型 

檢測性能

載流子壽命

尺寸

360 x 360 x 520 mm,質(zhì)量:16 kg

電源

110/220 V, 50/60 Hz, 3 A

其它細節(jié)

· 允許單片調(diào)查
不同種類的晶圓片有不同的菜單
監(jiān)控材料、工藝質(zhì)量和穩(wěn)定性



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