產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,建材,交通,航天,汽車 |
產(chǎn)品概述:
● 高精度.安定性.機(jī)能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測(cè)定的機(jī)型。
● 是多機(jī)能的全自動(dòng)微細(xì)形狀測(cè)定機(jī),針對(duì)用途及樣品尺寸有多種機(jī)型可供選擇。
● ET4000A/ ET4000AK一可實(shí)現(xiàn)2D/3D表面形狀測(cè)量。
● ET4000M一高性能的泛用微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)。
● ET4000L一對(duì)應(yīng)大型工件的全自動(dòng)微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)。
● ET4300一適合12"樣品測(cè)量。
●各機(jī)型詳細(xì)參數(shù)請(qǐng)與區(qū)域銷售聯(lián)系。
臺(tái)階儀/膜厚儀ET4000系列產(chǎn)品參數(shù)
大試片尺寸 | 210×210mm~300×400mm |
---|---|
重現(xiàn)性 | 1σ 0.5nm以內(nèi) |
測(cè)定范圍 | Z:100um X:100~305mm (Y移動(dòng)量:150~400mm) |
分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
測(cè)定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體,光伏/太陽能,光電子,化合物半導(dǎo)體,OLED,生物醫(yī)藥,PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度,臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度,臺(tái)階高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),劃痕深度,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測(cè)量方面。其高精度,高重復(fù)性,自動(dòng)探索樣品表面
日本KOSAKA小坂 臺(tái)階儀ET4000系列
日本KOSAKA小坂 臺(tái)階儀ET4000系列
相關(guān)分類
該廠商的其他產(chǎn)品
- 日本KOSAKA小坂 NanoFocus | μscan傳感器
- 日本KOSAKA小坂 NanoFocus | μsurf傳感器
- 日本KOSAKA小坂NanoFocus | μsprint傳感器
- µsprint hp-opc 3000 日本KOSAKA小坂 半導(dǎo)體探針卡檢測(cè)設(shè)備
- µsprint hp-hsi 2000 日本KOSAKA小坂 半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備
- µsprint hp-hsi 2000 日本KOSAKA小坂半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備人工裝載
- MLP-3 系列 日本KOSAKA小坂點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦3D形狀測(cè)量機(jī)
- PF-60 日本KOSAKA小坂點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦表面形狀測(cè)量機(jī)