nanoSAQLA 納米粒徑儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
品牌 OTSUKA/日本大塚
型號 nanoSAQLA
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2020/6/12 9:39:52
訪問次數(shù) 1691

產(chǎn)品標(biāo)簽

納米粒度儀納米粒徑儀納米粒度分析儀納米粒徑分析儀動(dòng)態(tài)光散射納米粒徑儀

在線交流發(fā)送詢價(jià) 查看電話同類產(chǎn)品

聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹 主營產(chǎn)品

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)·檢查。

　　以高速·高精度·高可靠性且有市場實(shí)際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ)，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實(shí)例，為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明相關(guān)方面，對研究機(jī)構(gòu)、各個(gè)廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。

　　在中國的蘇州有設(shè)立售后服務(wù)點(diǎn)，為了能迅速且周到的為顧客服務(wù)而努力。

　　我公司的母公司日本大塚電子集團(tuán)，隸屬于大冢集團(tuán)，一直以來都謹(jǐn)守大冢集團(tuán) 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品)，不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品，面向開展業(yè)務(wù)，為社會(huì)作出貢獻(xiàn)。

展開

zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)，晶圓在線測厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備，非接觸光學(xué)膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，量子效率測量系統(tǒng)

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	分散方式	濕法分散
價(jià)格區(qū)間	20萬-30萬	儀器種類	動(dòng)態(tài)光散射
應(yīng)用領(lǐng)域	食品,電子,制藥

多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa

nanoSAQLA納米粒徑儀利用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。

追求更高品質(zhì)管理的需求，搭載了各種功能。

可對應(yīng)檢體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學(xué)系，輕便•小型，實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測量。

新產(chǎn)品，非浸泡型，不受夾雜物的影響，無自動(dòng)取樣器，“5檢體連續(xù)測量”的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。

特點(diǎn)

只需一臺，輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
低濃度到高濃度都可對應(yīng)
高速測量，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
內(nèi)置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物
搭載溫度梯度功能

測量范圍（理論值）

粒徑 0.6nm～10μm
濃度范圍 0.00001～40％
溫度范圍 0～90℃*

式樣

型號	納米粒徑儀
測量原理	動(dòng)態(tài)光散射法
光源	高出力半導(dǎo)體激光*1
檢出器	高感光度APD
連續(xù)測量	5檢體
測量范圍	0.6nm ～ 10μm
對應(yīng)濃度	0.00001 ～ 40% *2
溫度	0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3
規(guī)格	遵照 ISO 22412：2017
	遵照J(rèn)IS Z 8828：2013
	遵照J(rèn)IS Z 8826：2005
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
重量	約18 kg
軟件	平均粒徑解析（累積法解析）
	粒度分布解析
	（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法）粒度分布疊寫逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍（0.1 ～ 106 nm）分子量計(jì)算功能

*1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級別區(qū)分，本儀器的安全級別為1級。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況。
一次性cell或連續(xù)測量時(shí)， 15 ～ 40℃ （不對應(yīng)溫度梯度）

測量范例