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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>光纖光譜儀>MCPD 透過率測試儀

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MCPD 透過率測試儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號 MCPD
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2020/6/12 16:03:25
  • 訪問次數(shù) 1451

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      大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價·檢查。

  以高速·高精度·高可靠性且有市場實際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ), 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例, 為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明 相關(guān)方面,對研究機構(gòu)、各個廠家的銷售量在逐步擴大。

  在中國的蘇州有設(shè)立售后服務(wù)點,為了能迅速且周到的為顧客服務(wù)而努力。

  我公司的母公司日本大塚電子集團,隸屬于大冢集團, 一直以來都謹(jǐn)守大冢集團 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品),不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品,面向開展業(yè)務(wù),為社會作出貢獻(xiàn)。

 

zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

按探測器 CCD 光譜范圍 紫外
價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣

 

 

 

MCPD系列透過率測試儀

(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)

提供豐富選配套件以及客制化光纖,可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計,是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的即時測量系統(tǒng)

 

 

膜厚測量

 

 

半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜

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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

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影印機感光鼓膜厚度量測

半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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LB膜測量

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蒸餾膜測量

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多點膜厚測量

  • 半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

  • 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

  • 塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)

  • 樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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