SEM-蔡司掃描電鏡Sigma系列

蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma系列

[ 產(chǎn)品簡介 ]

蔡司新一代蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡，具有高質(zhì)量的成像和分析能力，將先進的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與優(yōu)秀的用戶體驗結(jié)合。利用Sigma系列直觀的4步工作流程，在更短的時間內(nèi)獲得更多的數(shù)據(jù)，提高測試與生產(chǎn)效率?？蛇x配多種探測器，以滿足半導體、能源等新材料、磁性樣品、生物樣品、地質(zhì)樣品等不同的應用需求。結(jié)合蔡司原位電鏡實驗平臺，可以實現(xiàn)自動智能化的原位實驗工作流程，高效率獲取高通量、高質(zhì)量的原位實驗數(shù)據(jù)。EDS幾何設計保證了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、結(jié)果可靠。高分辨、全分析、多擴展、強智能、廣應用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科學和工業(yè)檢測等領域的“多面手”。

[ 產(chǎn)品特點 ]

ü Gemini鏡筒設計，低電壓高分辨，無漏磁；

ü 廣泛全面的應用場景；

ü 豐富靈活的探測手段；

ü 智能高效的工作流程；

ü 先進可靠的分析系統(tǒng)；

ü  強大完善的擴展平臺；

[ 應用領域 ]

ü 材料科學，如納米材料高分辨成像，高分子聚合物等不導電樣品成像，電池材料成分襯度成像，二維材料分析；

ü 生命科學，如生物樣品超微結(jié)構(gòu)成像，冷凍樣品高分辨成像；

ü 地質(zhì)礦物學，如地質(zhì)樣品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼聯(lián)用分析；

ü 工業(yè)應用，如組件失效分析，工藝診斷；

ü電子半導體行業(yè)，如質(zhì)量控制與分析，6英寸Wafer快速換樣，電子束曝光技術(shù)（EBL）；

ü鋼鐵行業(yè)，如夾雜物分析，金屬材料自動原位成像分析；

ü刑偵、法醫(yī)學；

ü 考古學、文物保護與修復；

NanoVP lite模式下斷裂的聚苯乙烯表面成像

氧化鋁顆粒高分辨二次電子成像

      ETSE探測器氧化鋅枝晶成像                          InLens SE探測器氧化鋯&氧化鐵復合材料成像

Sense BSD探測器刺毛苔蘚蟲超微結(jié)構(gòu)成像        aBSD探測器超導合金成像