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CBTZ-3100Z CBTZ-3100Z型自動對位探針臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 CBTZ-3100Z
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2024/1/27 15:18:18
  • 訪問次數(shù) 2004

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深圳市新瑪科技有限公司致力于電子測試測量領(lǐng)域為客戶提供的測試和高效的解決方案和全面的系統(tǒng)服務(wù),提供通用測試產(chǎn)品,示波器、邏輯分析儀、信號源、交流、直流電源、數(shù)據(jù)采集器、交流、直流電子負(fù)載儀和頻譜分析儀、安規(guī)測試、 電能質(zhì)量分析儀以及數(shù)字萬用表、功率分析儀、熱成像儀、絕緣電阻測試儀。包括全套電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,專業(yè)提供電磁兼容測試系統(tǒng),電磁干擾EMI抗干擾EMS診斷系統(tǒng),并提供專家級的技術(shù)和咨詢服務(wù)。為各個工業(yè)領(lǐng)域提供創(chuàng)新服務(wù)模式涵蓋測試儀器銷售、 計量校準(zhǔn)、維修維護(hù)以及面向企業(yè)級客戶端的系統(tǒng)集成服務(wù),產(chǎn)品覆蓋通信、工業(yè)電子制造、新能源、微電子、 航空航天,科研院所大學(xué)等行業(yè), 我們嚴(yán)格遵循以合格的產(chǎn)品去服務(wù)于客戶,幫助客戶選擇適合的解決方案。

隨著中國市場越來越多的進(jìn)口設(shè)備進(jìn)入中國在中國每年有數(shù)量眾多的技術(shù)*,價格昂貴的設(shè)備因為沒有合理的配備而閑置,對于每一個面對競爭的企業(yè)來說,這種浪費是致命的,我們認(rèn)為我們必須了解客戶的需求,將行業(yè)內(nèi)眾多成熟的方案幫助中小型技術(shù)企業(yè)客戶實現(xiàn)合理的配置同時提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性,并降低產(chǎn)品開發(fā)成本和生產(chǎn)成本。

新瑪通過與Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等廠商的合作,為客戶提供產(chǎn)品應(yīng)用解決方案、計量校準(zhǔn)、維修維護(hù)和科技資產(chǎn)外包管理等綜合服務(wù)。
      新瑪通過與業(yè)務(wù)伙伴的緊密合作,憑借便捷的進(jìn)貨渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),為客戶提供專業(yè)的產(chǎn)品選型、技術(shù)支持、現(xiàn)場測試等快捷的本地化服務(wù),成為電子測試領(lǐng)域的綜合服務(wù)商。


示波器,電子負(fù)載,熱像儀,邏輯分析儀,頻譜分析儀,數(shù)據(jù)采集器,安規(guī)綜合測試儀,交直流電源,電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,

應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,交通,汽車,電氣

CBTZ-3100Z型自動對位探針臺

能對晶片實現(xiàn)自動對位測試,

操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。

它與測試儀連接后,能自動完成對各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能測試 。

CBTZ-3100Z型自動對位探針臺

 主要技術(shù)參數(shù)

 可測片型:3 inch 4 inch

測試硅片單元尺寸:20—200 mil

定位精度:≤ ±0.01mm/110mm

自動對準(zhǔn)精度:±0.01mm

誤測率:≤ 1 ‰

全自動對位時間:≤ 15 s

測試速度 45 mil   5.0 pcs/s

50 mil   4.6 pcs/s

87 mil   4.2 pcs/s

步進(jìn)分辨率:0.001

Z向行程:05mm 可調(diào)

承片臺轉(zhuǎn)角θ調(diào)節(jié)范圍:±20o

 


對晶片實現(xiàn)自動對位測試,操作簡單,
快捷,測試精度高,具有MAP顯示功
能。它與測試儀連接后,能自動完成
對各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能
測試 。

操作方式

自動對位探針臺
提供了清晰直觀的觸屏操作頁面,
手觸點擊即可完成對晶片的自動對
位測試。

機(jī)器軟件的操作界面

 

除此之外還提供了更加簡潔 

便的小鍵盤操作方式,操作者可依據(jù)

個人偏好和習(xí)慣選擇任意種操作 

功能小鍵盤

機(jī)器功能

具有自動掃描對位功能,對位精度
高、速速快,Windows7界面,動態(tài)map
圖顯示測試過程。

具有圓形測試,范圍重測,探邊
測試,范圍打點,回收測試,矩形
測試和脫機(jī)打點多種測試功能。
具有X、Y、Z三軸運(yùn)動結(jié)構(gòu),操作軟
件能對垂直度、平面度進(jìn)行精度補(bǔ)償,保
證機(jī)器的控制精度和工作的穩(wěn)定性。
具有實時打點、脫機(jī)打點和滯
后打點功能。新型打點器,使用時
間長達(dá)3天,不滴墨,省去60%的操作時間。
具有Z軸行程分段運(yùn)動功能,其
分為基本高度、接觸高度、接觸緩沖、
過沖高度和折回高度,并且具有探邊
功能,防止測試過程中探針對芯片的
劃傷和探針與芯片的接觸不良。
測試針痕比例圖片(反光白點為針痕)

多個芯粒                            單個芯粒


 



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