ZK-PCT-35L 高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test
- 公司名稱 依諾檢測設(shè)備(東莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) ZK-PCT-35L
- 產(chǎn)地 廣東省東莞市橋頭鎮(zhèn)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/7/18 16:47:24
- 訪問次數(shù) 735
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濕熱試驗(yàn)箱,溫度循環(huán)試驗(yàn)箱,冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱,溫度沖擊試驗(yàn)箱,快速溫度變化試驗(yàn)機(jī),防爆型高低溫試驗(yàn)箱,溫度濕度低氣壓試驗(yàn)箱,步入式環(huán)境試驗(yàn)箱,萬能材料拉力試驗(yàn)機(jī),電動(dòng)式高頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
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高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test概述
Pressure Cook Test專業(yè)制造商與供應(yīng)商。PCT所激發(fā)對(duì)IC芯片封裝、半導(dǎo)體元器件、集成電路、PCB板等故障模態(tài)與HAST類似。二者提供的AF相差無幾,一般應(yīng)用130℃,100%RH,Static bias,15PSIG(2 atm),168hou或96hous的試驗(yàn)條件引起封裝焊線拉起、芯片基座粘附性差、界面剝離、焊接基座的腐蝕、金屬化合或是引線開路等。是評(píng)估IC產(chǎn)品在高溫,高濕,高氣壓條件下對(duì)濕度的抵抗能力,加速其失效過程的可靠性測試設(shè)備。
高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test技術(shù)參數(shù)
型 號(hào): | ZK-PCT-25L | ZK-PCT-35L | ZK-PCT-45L | ZK-PCT-65L |
內(nèi)部尺寸(W×H×D)mm: | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ600×650 |
外箱尺寸(W×H×D)mm: | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
使用溫度: | 121℃;132℃;(143℃特殊選用) | |||
使用濕度: | 100%RH飽和蒸氣濕度 | |||
使用蒸氣壓力(壓力): | 1個(gè)環(huán)境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2屬于特殊規(guī)格) | |||
循環(huán)方式: | 水蒸氣自然對(duì)流循環(huán) | |||
安全保護(hù)裝置: | 缺水保護(hù),超壓保護(hù)、 (具有自動(dòng)/手動(dòng)補(bǔ)水功能,自動(dòng)瀉壓功能) | |||
配 件: | 不銹鋼隔板兩層 | |||
電 源: | AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz |
高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.IEC60068-2-66。
2.JESD22-A102-B。
3.EIAJED4701。
4.EIA/JESD22。
5.JESD22-A102
6.EIAJED- 4701-B123
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