PLD-MPCS2.0 電子半導體清潔度分析系統(tǒng) 粒子計數(shù)儀

產(chǎn)品簡介：

電子半導體清潔度分析系統(tǒng) 粒子計數(shù)儀，為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學顯微鏡、圖像測試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機等部分組成；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測試手段。

電子半導體清潔度分析系統(tǒng) 粒子計數(shù)儀優(yōu)勢：

測試軟件具有審計追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測試標準、計量驗證、報告模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動標準選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計數(shù)，或按用戶設(shè)定范圍計數(shù)，自動顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標準確定產(chǎn)品等級；

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；

軟件控制分析過程，手動對焦，手動光強（顆粒清潔度測試必須人為干預進行），自動掃描，自動攝入，自動分析；

數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統(tǒng)，無縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；

引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位，快速聚焦，體驗極速無卡頓測試。

顯示器及打印機輸出分析結(jié)果；

直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計、自動標定等特點；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴展檢測范圍；

現(xiàn)實NAS、ISO等標準方法的認可；

提供行業(yè)*的“OIL17服務(wù)星”簽約式服務(wù)；

產(chǎn)品應(yīng)用：

航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車制造、制冷、電子、半導體、工程機械、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域；

對各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續(xù)相測試）。

執(zhí)行標準：

0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。

可根據(jù)客戶要求，植入相應(yīng)“圖像法顆粒度”測試和評判標準。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號：PLD-MPCS2.0

訂制要求：各類液體檢測要求；

測試范圍:  1μm-500μm

放大倍數(shù)：40X～l000X倍   

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字攝像頭(CCD)：500萬~1800萬像素

分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

自動分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運行環(huán)境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

分 辨 率：>95%

售后服務(wù)：普洛帝中國服務(wù)中心/普研檢測。