JSM-IT500 日本電子電鏡
- 公司名稱 北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) JSM-IT500
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/9/23 16:32:27
- 訪問(wèn)次數(shù) 2352
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日本電子電子顯微鏡，德國(guó)Xhuber公司G670系列大型快速高分辨X射線粉末衍射儀，美國(guó)ISS公司穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀，德國(guó)Hilgers公司Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)
| 二次電子圖象分辨率 | 3.0nm(30kv)、8nm(15kv)、15.0nm(1.0kv)nm | 放大倍數(shù) | 5-300000x |
|---|---|---|---|
| 加速電壓 | 0.5kv~30kvkV | 價(jià)格區(qū)間 | 150萬(wàn)-200萬(wàn) |
| 儀器種類 | 鎢燈絲 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,電子 |
日本電子電鏡JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。
從選定興趣視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無(wú)縫操作，使用方便的掃描電子顯微鏡。
日本電子電鏡JSM-IT500功能特點(diǎn)：
3個(gè)關(guān)鍵點(diǎn) 使日常分析更迅速！更簡(jiǎn)便！
關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析 (僅限于A/LA)
在圖像觀察過(guò)程中，進(jìn)行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀察窗口中， 如果給感興趣的元素加上alert ，會(huì)更容易發(fā)現(xiàn)。
關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件
數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報(bào)告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或者從測(cè)試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動(dòng)數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù)，一鍵就能生成報(bào)告。
關(guān)鍵點(diǎn)1 Zeromag
從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和分析位置。尋找視野非常輕松， 多視野連續(xù)分析的位置也很容易。
光學(xué)CCD圖像和SEM圖像的wan美結(jié)合和無(wú)縫操作使工作效率大大提高！
利用Zeromag能簡(jiǎn)便自動(dòng)地進(jìn)行大區(qū)域SEM觀察和EDS分析
利用Zeromag設(shè)置蒙太奇
蒙太奇結(jié)果 4×4 （左：背散射電子成份像 右：Ca元素面分布圖）
樣品：混凝土 加速電壓：15kV 高真空模式 拍攝區(qū)域：約4mm×3mm
利用Zeromag很容易設(shè)定大面積的蒙太奇區(qū)域，有利于成像和觀察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區(qū)域中識(shí)別異物等從大面積區(qū)域上獲取詳細(xì)信息時(shí)非常有效。
關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析 SEM和EDS一體化集成
在SEM圖像觀察過(guò)程中，進(jìn)行EDS分析
利用Live Analysis功能，可在觀察窗口中進(jìn)行被觀察區(qū)域的EDS分析。可以很容易地找到自己感興趣的元素，還能發(fā)現(xiàn)意料之外的元素。
①顯示存在于測(cè)試區(qū)域中的主元素。能元素并顯示“Alert”。
②會(huì)顯示分析區(qū)域的特征X射線譜圖和自動(dòng)定性分析結(jié)果。
③一鍵點(diǎn)擊就可以在電鏡操作界面和詳細(xì)分析顯示界面間切換。
關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件SMILE VIEW™ Lab 無(wú)縫創(chuàng)建報(bào)告
SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺(tái)位置聯(lián)動(dòng)的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報(bào)告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析，生成報(bào)告等都非常簡(jiǎn)便。
①顯示各個(gè)視野的名稱。
②能根據(jù)樣品名、創(chuàng)建日期和數(shù)據(jù)類型等搜索數(shù)據(jù)。
③在樣品座圖形或CCD圖像上顯示各個(gè)視野的位置。
④會(huì)列表顯示被選區(qū)域的元素圖、譜圖等的數(shù)據(jù)和定量分析結(jié)果等。
技術(shù)參數(shù)
| 分辨率 高真空模式 | 3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
| 低真空模式*1 | 4.0 nm (30 kV BED) |
| 圖像倍率 | ×5～×300,000 |
| 顯示倍率 | ×14～×839,724 |
| 電子槍 | 鎢燈絲 電子槍*自動(dòng)合軸 |
| 加速電壓 | 0.3kV～30kV |
| 低真空壓力設(shè)定范圍※1 | 10～650Pa |
| 物鏡光闌 | ３檔 帶有ＸＹ微調(diào)功能 |
| 自動(dòng)功能 | 燈絲調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整，聚焦、像散、襯度/亮度調(diào)整 |
| 大樣品尺寸 | 200 mm直徑×75 mm高度 |
| 樣品臺(tái) | 大型全對(duì)中式 |
| 圖像無(wú)縫拼接功能 | 標(biāo)配 |
| 顯示測(cè)試位置座標(biāo) | 直徑203 mm |
| 標(biāo)準(zhǔn)菜譜 | 有（包括EDS條件 ※2） |
| 圖像模式 | 二次電子像、REF像、成份像*1、形貌像*1、陰影像*1等 |
| 獲取圖像的像素?cái)?shù) | 640x480 1,280x960 |
| OS | Microsoft®Windows®10 64bit |
| 顯示器 | 23寸觸摸屏 |
| EDS 功能*2 | 譜圖分析、定性分析/定量分析、線分析（水平線分析、任意方向線分析）元素面分布、電子束追蹤等 |
| 測(cè)長(zhǎng)功能 | 有（兩點(diǎn)間距離、平行線間距離、角度、直徑等） |
| 數(shù)據(jù)管理功能 | SMILE VIEW™ Lab |
| 生成報(bào)告功能 | SMILE VIEW™ Lab |
| 語(yǔ)言切換 | 可以在UI 上（日語(yǔ)/ 英語(yǔ)） |
| 抽真空系統(tǒng) | *自動(dòng) TMP：1 臺(tái)、RP：1臺(tái)或2臺(tái)※1 |
備注：Windows10 為美國(guó)微軟公司在美國(guó)及其它國(guó)家的注冊(cè)商標(biāo)或商標(biāo)
主要選配件
背散射電子檢測(cè)器（BED) ※1
低真空二次電子檢測(cè)器（LSED)能譜儀(EDS)※2
波譜儀（WDS）
電子背散射衍射檢測(cè)器(EBSD)
加載互鎖真空室（預(yù)抽室）
樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）
樣品室觀察系統(tǒng)(CS)
操作面板
3D測(cè)量軟件操作臺(tái)
※1 為JSM-IT500LV/LA的標(biāo)配功能。
※2 為JSM-IT500LV/LA的標(biāo)配功能。
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