粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)可代替三菱化學(xué)MCP-PD51

 粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)可代替三菱化學(xué)MCP-PD51

粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)可代替三菱化學(xué)MCP-PD51

 eLiPMS-2000 粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng)組成、功能、性能表： 

系統(tǒng)搭配三菱化學(xué) Loresta-GX 高精度四探針儀 (MCP-T700)、自主開發(fā)之測(cè)試軟件、一般辦公用電腦。

 1) 內(nèi)置的精密四探針探頭模腔組件及精密荷重測(cè)力傳感器單元，大施加壓力 30KN，約 95MPa； 在大壓力范圍內(nèi)可設(shè)置任意壓力點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試分析。一鍵啟動(dòng)，自動(dòng)進(jìn)行加壓、測(cè)試、釋放。

2) 簡(jiǎn)易操作軟件界面，可設(shè)置壓力點(diǎn)下的保壓時(shí)間（保壓時(shí)間到再測(cè)試），自動(dòng)測(cè)量壓實(shí)下粉末 之電阻、面電阻、電阻率、電導(dǎo)率、厚度、壓強(qiáng)、顆粒壓實(shí)密度特性等參數(shù)。

3) 系統(tǒng)通過與三菱化學(xué)LORESTA-GX(MCP-T700)低阻率計(jì)連接，可測(cè)試寬范圍之粉體阻抗特征。 電阻測(cè)試范圍：0.001*10-4~9.999*107 Ω；電阻率=Ω*厚度（單位 cm）

4) *的探針單元，高精度四探針測(cè)試原理，消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。 也可以裁剪φ20mm 的正負(fù)電極片形成樣品來測(cè)試電池極片在不同壓力下的電阻特性；或者單 獨(dú)使用 MCP-T700 及其標(biāo)配探頭或選配探頭來測(cè)試片材，所謂一機(jī)兩用。

應(yīng)用：阻性粉末材料研發(fā)及品質(zhì)控制。

 測(cè)試領(lǐng)域：碳 粉 如充電電池的電極材料、電子材料（電容器，電阻等）等

 金屬粉末：電池的電極材料、薄膜材料（銅粉末、ITO 粉末等等）、導(dǎo)電膏、導(dǎo)電油漆和涂料、綠 色接觸材料等。

其它粉末： 墨粉和相關(guān)的粉體/磁性材料如鐵素體、汽車配件等材料