MIKROTEST G6覆層測(cè)厚儀總經(jīng)銷(xiāo)

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簡(jiǎn)介：

MIKROTEST 覆層測(cè)厚儀、測(cè)量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度(如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳)。測(cè)量快速、、無(wú)損，三十多年來(lái) MICROTEST 已成為被廣泛應(yīng)用的自動(dòng)測(cè)定涂鍍層厚度的儀器。德國(guó)的“訣竅”說(shuō)明它在工藝技術(shù)及精度方面，具有磁性覆層測(cè)厚儀的水準(zhǔn)。

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==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
   ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
   ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
   ==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
   ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
   ==>>美國(guó)API  XD系列激光干涉儀；
   ==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
   ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
   ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
   ==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
   ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
   ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
   ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
   ==>>杭州思看科技三維掃描儀.