Bruker ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀 用于表面紋理計(jì)量

ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

用于表面紋理計(jì)量的靈活臺(tái)式

ContourX-200光學(xué)輪廓儀將先進(jìn)的特性，可自定義的選項(xiàng)以及易用性融合，可提供yi 流的快速，準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式3D表面度量。具有測(cè)量功能的小尺寸系統(tǒng)使用較大的FOV 5 MP數(shù)碼相機(jī)和新型電動(dòng)XY位移臺(tái)，可提供毫不妥協(xié)的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。 ContourX-200還配有業(yè)界先進(jìn)的操作和分析軟件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)化的功能，可訪問(wèn)廣泛的預(yù)編程濾鏡和分析庫(kù)，用于精密加工的表面，厚膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)應(yīng)用。 ContourX-200具有的Z軸分辨率和精度，在不限制傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和競(jìng)爭(zhēng)性標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)輪廓儀的情況下，提供了布魯克專(zhuān)有的白光干涉儀（WLI）技術(shù)的所有業(yè)界*的優(yōu)勢(shì)。

ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

毫不妥協(xié)的yi 流計(jì)量

基于ContourX-200光學(xué)輪廓儀超過(guò)四十年的專(zhuān)有WLI創(chuàng)新，該輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲，高速，高精度和高精度結(jié)果。通過(guò)使用多個(gè)目標(biāo)和集成的特征識(shí)別功能，可以在各種視野內(nèi)以亞納米級(jí)的垂直分辨率跟蹤特征，從而為非常不同的行業(yè)中的質(zhì)量控制和過(guò)程監(jiān)控應(yīng)用提供了與比例無(wú)關(guān)的結(jié)果。 ContourX-200在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅(jiān)固。

輪廓X-200

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-200

ContourX-200電動(dòng)載物臺(tái)。

廣泛的應(yīng)用分析能力

利用強(qiáng)大的VisionXpress和Vision64用戶(hù)界面，ContourX-200提供了數(shù)千種定制分析，以提高實(shí)驗(yàn)室和工廠車(chē)間的生產(chǎn)率。系統(tǒng)新相機(jī)提供的更大FOV和新型電動(dòng)XY工作臺(tái)提供的靈活性，為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結(jié)合，可提供對(duì)ding 級(jí)光學(xué)性能的簡(jiǎn)化訪問(wèn)，*超越了同類(lèi)計(jì)量功能。