S-MRS系列 漫反射率測試系統(tǒng)
- 公司名稱 上海波銘科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 S-MRS系列
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/1/22 19:07:29
- 訪問次數(shù) 1698
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光學(xué)測試系統(tǒng);光源/激光器;光譜儀;光電探測器;電子數(shù)據(jù)采集器;光學(xué)平臺;電動位移臺;手動位移臺;調(diào)整架;光學(xué)元件
S-MRS系列漫反射率測試系統(tǒng)應(yīng)用:
• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置
• 波長準(zhǔn)確度:優(yōu)于±0.2nm(紫外-可見區(qū)),優(yōu)于±0.5nm;(近紅外區(qū))
• 光度測量準(zhǔn)確度:1%以內(nèi)(紫外-可見區(qū)),2%以內(nèi);(近紅外區(qū))
• 光度測量重復(fù)性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm
S-MRS系列漫反射率測試系統(tǒng)特點(diǎn)
• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置
• 波長準(zhǔn)確度:優(yōu)于±0.2nm(紫外-可見區(qū)),優(yōu)于±0.5nm;(近紅外區(qū))
• 光度測量準(zhǔn)確度:1%以內(nèi)(紫外-可見區(qū)),2%以內(nèi);(近紅外區(qū))
• 光度測量重復(fù)性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm