X射線熒光能譜儀

 帕納科Epsilon1 X射線熒光能譜儀是一臺*集成的臺式XRF能譜儀，為多個行業(yè)量身定制解決方案，包含預(yù)校準的軟件、驗證樣和樣品杯等。

您是否正在尋找一種靈活簡便的科研分析儀器？Epsilon 1正是所有研究機構(gòu)現(xiàn)有分析設(shè)備的補充。該儀器既可以快捷地對元素進行定性定量，也可以完成更加復(fù)雜的分析任務(wù)。

很多現(xiàn)代分析技術(shù)手段可以廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制領(lǐng)域，而與課堂的應(yīng)用無緣。我們研發(fā)的Epsilon 1分析儀器可以方便地將的XRF分析技術(shù)帶入課堂和實驗室中。其直觀的分析界面，簡單易行的制樣方法和操作步驟，緊湊安全的儀器系統(tǒng)，將成為您從事研究工作的有力工具，并吸引學(xué)生更多地參與到科研工作中來。

Epsilon1 科研版使用Omnian進行預(yù)校準，Omnian是帕納科用于我們*儀器的市場的無標樣分析軟件。可用于在實驗室向?qū)W生傳授實踐知識，并用于各個學(xué)科的研究活動。例如，化學(xué)、地質(zhì)、考古、環(huán)境科學(xué)、材料科學(xué)等。Epsilon1科研版允許XRF對多種樣品的無限數(shù)量應(yīng)用進行篩選和定量分析。幾乎不需要進行樣品制備，就可對實體樣品進行跨越整個元素周期表的定量分析。

帕納科Epsilon1 X射線熒光能譜儀可處理類型廣泛的樣品，重量從幾百毫克到更大的塊狀樣品不等：固體、壓縮粉末、稀松粉末、液體、熔片、粘漿、顆粒、薄膜和鍍層。也可分析大型不規(guī)則形狀物體，大尺寸為15×12×10cm （W×D×H）。

Epsilon1科研版還可選擇FingerPrint和Stratos模塊，以進一步增強Epsilon1的功能。