EDK 4500 EIMS 增強(qiáng)離子遷移譜氣體分析儀

概述

      增強(qiáng)離子遷移譜氣體分析儀可提供達(dá)100 FWHM的分辨率，足以分辨異構(gòu)體成分。SIMS的一大優(yōu)勢(shì)是可以使用環(huán)境大氣作為緩沖氣，這一優(yōu)勢(shì)就把使用成本減低為零。 SIMS儀器的離子遷移譜技術(shù)通過電暈放電（CD）電離源提升了靈敏度。除了其他比如無放射性和更高離子產(chǎn)量的優(yōu)勢(shì)之外，我們的技術(shù)還提供了電暈放電選擇性反應(yīng)物離子的產(chǎn)生。除了可供OEM的SIMS引擎，我們還提供可與GC聯(lián)用便攜式的PSIMS，可配置正負(fù)極性的雙離子遷移光譜儀DSIMS等，以滿足不同的需求。

增強(qiáng)離子遷移譜氣體分析儀應(yīng)用：

l 過程快速監(jiān)測(cè)

l VOC/TOC監(jiān)測(cè)

l 痕量氣體分析

l 液體分析，固體和表面分析

l 爆炸物分析

l 藥品質(zhì)量控制

特點(diǎn)

l 高分辨力和靈敏度

l 無放射性等離子電離源

l 可在大氣壓或者次大氣壓下運(yùn)行

l 選擇性反應(yīng)物離子生成

l 與其他分離技術(shù)結(jié)合

l 對(duì)所有運(yùn)行參數(shù)的全面控制

配套的軟件可以快速查看屬于當(dāng)前操作間的測(cè)量點(diǎn)；由于這些點(diǎn)的分析是EIMS完成的，每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的目標(biāo)氣體都是同步檢測(cè)的。對(duì)于每個(gè)測(cè)量點(diǎn)，可以看到上一次測(cè)量的值，而當(dāng)前測(cè)量點(diǎn)會(huì)突出顯示所在的狀態(tài)。此外，還可以查看系統(tǒng)是在手動(dòng)模式還是自動(dòng)模式下測(cè)量，是在測(cè)量樣本還是在后臺(tái)階段，自動(dòng)序列的哪個(gè)點(diǎn)正在掃描，以及一個(gè)進(jìn)度條，指示序列的下一步還剩多少。