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DSO5000Lab 集成電路與半導(dǎo)體測(cè)試教學(xué)實(shí)訓(xùn)平臺(tái)
- 公司名稱(chēng) 北京君合泰測(cè)控技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) DSO5000Lab
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/1/31 14:03:45
- 訪問(wèn)次數(shù) 514
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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DSO5000Lab集成電路與半導(dǎo)體測(cè)試教學(xué)實(shí)訓(xùn)平臺(tái)
技術(shù)參數(shù)
1、總體要求
本平臺(tái)適用于電子線路。測(cè)試技術(shù)導(dǎo)論、虛擬儀器技術(shù)、電子線路課程、自動(dòng)化測(cè)試導(dǎo)論、集成電路設(shè)計(jì)基礎(chǔ)、集成電路測(cè)試基礎(chǔ)、集成電路測(cè)試導(dǎo)論、電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)實(shí)踐、半導(dǎo)體測(cè)試基礎(chǔ)教學(xué)、微電子實(shí)訓(xùn)及競(jìng)賽等應(yīng)用場(chǎng)合。
本平臺(tái)虛擬儀器功能包括:數(shù)字存儲(chǔ)示波器、函數(shù)與任意波形發(fā)生器、邏輯分析儀、數(shù)字萬(wàn)用表、程控電源、多功能數(shù)據(jù)記錄儀、場(chǎng)強(qiáng)儀、晶體管圖示儀、頻率特性分析儀和頻譜分析儀功能。
本平臺(tái)能完成集成電路設(shè)計(jì)、集成電路功能測(cè)試以及具有工業(yè)實(shí)際應(yīng)用的序列測(cè)試。
本平臺(tái)具有半導(dǎo)體晶片和芯片的電參數(shù)測(cè)試功能,能完成電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)的檢測(cè)。特別適合微電子封裝技術(shù)的教學(xué)和實(shí)訓(xùn)。
本平臺(tái)可以完成基于功能性電路的仿真、設(shè)計(jì)與測(cè)試
項(xiàng)目設(shè)計(jì)、基于分立元器件的序列測(cè)試項(xiàng)目設(shè)計(jì)、基于PCI的自動(dòng)化測(cè)試項(xiàng)目設(shè)計(jì)。
本平臺(tái)可使學(xué)生掌握虛擬儀器系統(tǒng)的基本構(gòu)成及基本設(shè)計(jì)思想,學(xué)習(xí)應(yīng)用圖形化語(yǔ)言進(jìn)行編程和設(shè)計(jì),掌握LabVIEW軟件的應(yīng)用。以基于LabVIEW的虛擬儀器開(kāi)發(fā)平臺(tái)為基礎(chǔ),學(xué)習(xí)掌握LabVIEW編程環(huán)境、編程方法、數(shù)據(jù)采集、信號(hào)分析與處理等方面的內(nèi)容。同時(shí)在掌握基本理論知識(shí)和編程方法的基礎(chǔ)上,能夠從測(cè)量問(wèn)題的本身出發(fā),通過(guò)題目分析、電路組成等設(shè)計(jì)合理的測(cè)量方案,本平臺(tái)和相應(yīng)的硬件設(shè)施,解決實(shí)際的測(cè)量問(wèn)題。培養(yǎng)學(xué)生自己動(dòng)手組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的能力。
2、主實(shí)驗(yàn)箱
1.交流電源輸入:220V±10%50Hz;
2.工作環(huán)境溫度:-10℃~+40℃;
3.直流電源輸出:+3.3V、+5V、-5V、+12V、-12V;
4.實(shí)驗(yàn)面包板尺寸:170*46mm;
5.DUT接口基座:2個(gè);
6.BNC座:4個(gè);
7.香蕉座:4個(gè);
8.USB座:N+2;
9.實(shí)驗(yàn)箱尺寸:520x330x140mm;
10.終端測(cè)試平臺(tái):i5處理器,32G內(nèi)存,512固態(tài)快速存儲(chǔ)硬盤(pán),23英寸顯示器。
3、虛擬儀器數(shù)字存儲(chǔ)示波器
1.模擬帶寬:100MHz;
2.通道數(shù):4通道;
3.實(shí)時(shí)采樣率:1GSa/s;
4.存儲(chǔ)深度:64K;
5.時(shí)基精度:±50ppm;
6.時(shí)基范圍:2ns/div-1000s/div;
7.輸入阻抗:1MΩ,25pF ;
8.輸入耦合:AC/DC/GND;
9.輸入靈敏度范圍;2mV/div~10V/div;
10.垂直分辨率:8Bit;
11.垂直位移范圍;2mV~10V/div@x1probe;20mV~100V/div@x10probe;
12.直流增益精度:±3%;
13.輸入電壓:400V (DC+AC Peak);
14.觸發(fā)類(lèi)型:單次、自動(dòng)、正常;
15.觸發(fā)模式:邊沿、交替、脈寬、視頻;
16.波形計(jì)算:+、-、x、÷、FFT、反向;
17.觸發(fā)源:CH1、CH2、CH3、CH4;
18.光標(biāo)測(cè)量:Horizontal,Vertical,Cross;
19.FFT:Rectangular,Hanning,Hamming,Blackman Window;
20.自動(dòng)測(cè)量:
Vpp,Vamp,Vmax,Vmin,Vtop,Vmid,Vbase, Vavg,Vrms,Vcrms,Preshoot,Overshoot,Frequency,Period,Rise Time,Fall Time,Positive Width,Negative Width,Duty Cycle;
虛擬儀器函數(shù)與任意波形發(fā)生器
1.通道數(shù):1通道;
2.信號(hào)輸出頻率范圍:DC~25MHz;
3.分辨率:0.1%Freq;
4.波形幅度:±3.5Vmax;
5.輸出阻抗:50 Ω;
6.輸出電流:50mA Ipeak=50mA;
7.DAC時(shí)鐘:2K~200MHz 可調(diào);
8.波形長(zhǎng)度:2K;
9.垂直分辨率:12位;
10.波形穩(wěn)定度:<30ppm;
5、虛擬儀器邏輯分析儀
1.輸入信號(hào)通道數(shù):16路;
2.采樣頻率:400MSa/s(4路),200MSa/s(8路),100MSa/s(16路)
3.連續(xù)可調(diào)的閾值電壓范圍 0.5V~+4.5V;
4.輸入電壓范圍:-30V~+30V;
5.輸入阻抗:250KΩ;
6.測(cè)量信號(hào)帶寬:50MHz;
7.存儲(chǔ)深度:16M;
8.采樣時(shí)鐘:50MHz;
6、虛擬儀器數(shù)字萬(wàn)用表
1.直流電壓測(cè)量可選檔位:60mV、600mV、6V、60V、800V;
2.交流電壓測(cè)量可選檔位:60mV、600mV、6V、60V、800V;
3.直流電流測(cè)量可選檔位:60mA、600mA、6V、10A;
4.直流電流測(cè)量可選檔位:60mA、600mA、6V、10A;
5.電阻測(cè)量可選檔位:600Ω、6K、60K、600K、6M、60M;
6.電容測(cè)量可選檔位:40nF、400nF、4uF、40uF、400uF;
7.二極管測(cè)試:支持;
8.通斷蜂鳴:支持;
9.自動(dòng)量程:支持;
10.各路均帶電路保護(hù);
7、虛擬儀器程控可調(diào)電源
1.電壓輸出通道:1路;
2.電壓輸出范圍: 0~+32V;
3.電流輸出范圍:0~1A Max;
4.電源調(diào)節(jié)方式:軟件動(dòng)態(tài)程控輸出;
8、多功能數(shù)據(jù)記錄儀
1.模擬輸入通道:16路;
2.輸入通道分辨率:12位分辨率;
3.總采樣率:200kS/s;
4.FIFO: 4K;
5.模擬輸出通道: 4路;
6.輸出通道分辨率: 12位;
7.輸出通道更新率: 100 kS/s;
8.數(shù)字輸入通道:16路;
9.數(shù)字輸出通道:16路;
10.計(jì)數(shù)器:3個(gè);
11.計(jì)數(shù)器精度:32位;
9、半導(dǎo)體晶片與芯片探針測(cè)試臺(tái)
1.移動(dòng)方向:XYZ;
2.驅(qū)動(dòng)方式:微分頭;
3.行程:±6.5mm Z軸:10mm;
4.刻度分辨率:0.01mm;
5.主要材質(zhì):鋁合金;
6.隔振平板固有頻率:8-10Hz;
7.探針調(diào)節(jié)臺(tái)XYZ行程:13/13/13mm;
8.CCD成像顯微鏡:1200萬(wàn)像素;
9.LED顯示屏:7寸;
10、標(biāo)準(zhǔn)DUT模塊
1.ADC/DAC測(cè)試
2.運(yùn)算放大器測(cè)試
3.晶體管測(cè)試
4.無(wú)源器件測(cè)試
5.半導(dǎo)體芯片封裝測(cè)試
6.半導(dǎo)體晶元及成品測(cè)試
11、模擬數(shù)字綜合電路實(shí)驗(yàn)?zāi)K
·基本放大器電路模塊
單級(jí)放大器、二級(jí)放大器、負(fù)反饋放大器、射極跟隨器、差動(dòng)放大器、場(chǎng)效應(yīng)管放大器;
·集成運(yùn)算放大器電路模塊
模擬運(yùn)算電路、有源濾波器、電壓比較器;
·振蕩器電路模塊
文氏電橋振蕩器、LC振蕩器、方波三角波發(fā)生器;
·功率放大器電路與穩(wěn)壓電源電路模塊
集成功率放大器、OTL功率放大器、串聯(lián)型晶體管穩(wěn)壓電源、集成穩(wěn)壓器;
·基本邏輯電路模塊
邏輯門(mén)電路、組合邏輯電路、數(shù)據(jù)選擇器、譯碼器、字段譯碼器;
·綜合數(shù)字電路模塊
計(jì)數(shù)器、移位寄存器、555定時(shí)器;
·觸發(fā)器電路模塊
基本RS觸發(fā)器電路、JK觸發(fā)器電路、D觸發(fā)器電路;
信號(hào)與系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)模塊
·無(wú)源濾波器電路模塊
低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器、帯阻濾波器電路;
·有源濾波器電路模塊
低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器、帯阻濾波器電路;
·四階巴特沃斯濾波器電路模塊
測(cè)量觀察和分析濾波器特性;
·四階古比雪夫?yàn)V波器電路模塊
測(cè)量觀察和分析濾波器特性;
·信號(hào)分解電路模塊
分解為一、二、三、四、五次諧波;
·信號(hào)合成電路模塊
多次諧波合成方波;
·RC移相電路與補(bǔ)償分壓電路模塊
測(cè)量觀察和分析電路特性;
·零輸入響應(yīng)與零狀態(tài)響應(yīng)模塊
測(cè)量觀察和分析電路特性;
·二階網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)軌跡的分析模塊
測(cè)量觀察和分析電路特性;
·一階、二階連續(xù)時(shí)間系統(tǒng)模塊
測(cè)量觀察和分析電路特性;
·階躍響應(yīng)與沖激響應(yīng)模塊
測(cè)量觀察和分析電路特性;
選配微電子實(shí)驗(yàn)測(cè)試模塊
·半導(dǎo)體電阻率及薄層電阻測(cè)試
·半導(dǎo)體霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率測(cè)試
·硅光電池特性測(cè)試
·數(shù)字MOSIC功能和動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試
·雙極型晶體管直流參數(shù)測(cè)試
·PN結(jié)正向壓降溫度特性測(cè)試
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