HCJD 高低溫寬頻介電溫譜測(cè)試儀系統(tǒng)
- 公司名稱 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
- 品牌 HUACE/北京華測(cè)
- 型號(hào) HCJD
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/8 15:07:59
- 訪問次數(shù) 2852
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材,電子,紡織皮革 | 溫度范圍 | RT-800(最高1650)°C |
控溫精度 | ±0.25°C | 樣品尺寸 | φ<25mm,d<4mm |
測(cè)試頻率 | 10Hz~120MHz | 加熱方式 | 近紅外加熱 |
測(cè)試功能 | 介電溫譜、頻譜 |
華測(cè)高低溫介電溫譜測(cè)試儀系統(tǒng)
一、華測(cè)高低溫介電溫譜測(cè)試儀系統(tǒng)簡(jiǎn)介:
華測(cè)高溫介電溫譜測(cè)試儀系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的準(zhǔn)確度。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過程的;資料保存機(jī)制,當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備,將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號(hào)測(cè)量過程中影響弱信號(hào)的采集,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測(cè)試需求.
消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響
消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能 強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽
華測(cè)系列阻抗分析儀是華測(cè)儀器電子事業(yè)部采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,為國產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的新的高度。解決同類儀器,在測(cè)量10Hz-50MHz的頻率瓶頸;采用單測(cè)和分析兩種界面,讓測(cè)試簡(jiǎn)單。得益于自動(dòng)平衡電橋技術(shù),在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。 快達(dá)5ms的測(cè)試速度及高達(dá)50M的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
專用高頻測(cè)試線纜,適合高頻測(cè)量
測(cè)試引線使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口,附帶BNC陽頭連接板,用于連接高溫爐的測(cè)試夾具,同時(shí)測(cè)試線采用高頻測(cè)試專用測(cè)試線,設(shè)計(jì)兩層屏蔽。適合高頻介電參數(shù)測(cè)量。
儀器優(yōu)勢(shì):
1、它可以勻速、階梯(升降溫)、循環(huán)沖擊,真空、氣氛等多種的加熱方式。
2、采用移相觸發(fā)技術(shù),可實(shí)現(xiàn)控制精度波動(dòng)±0.25°c 以內(nèi),溫控度高。
3、加熱速度快、同時(shí)它可以提供了材料的多的測(cè)試環(huán)境。
設(shè)備優(yōu)勢(shì)
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
2、溫度控制
近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以準(zhǔn)確控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。
3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫,操作簡(jiǎn)單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
█ 多功能真空加熱 爐,可實(shí)現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下電學(xué)測(cè)試
█ 采用鉑金材料作為測(cè)量導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度
█ 設(shè)備配置水冷裝置,降溫速度快、效率高
█ 可實(shí)現(xiàn)介電溫譜、介電頻譜等測(cè)量功能
█近紅外加熱,樣品受熱均勻,不存在感應(yīng)電流,達(dá)到準(zhǔn)確測(cè)量
█ 10寸觸摸屏設(shè)計(jì),一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu),穩(wěn)定、可靠
█ 采用高頻測(cè)試線,抗擾能力強(qiáng),采集度高
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣,配和鉑金電極夾具
█ huace pro 控制分析軟件與功能測(cè)試平臺(tái)系統(tǒng)相互兼容
不一樣的加溫方式及多的應(yīng)用場(chǎng)景
設(shè)備測(cè)量參數(shù)
溫度范圍: RT-800 (最高1650)°C
樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm
控溫精度:±0.25°C
電極材料:鉑金
升溫斜率:10°C/min(可設(shè)定)
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
測(cè)試頻率 : 10Hz~120MHz
絕緣材料:99氧化鋁陶瓷
加熱方式:近紅外加熱
測(cè)試功能:介電溫譜、頻譜
冷卻方式:水冷
數(shù)據(jù)傳輸:4個(gè)USB接口
輸入電壓:110~220V
設(shè)備尺寸:600x500x350mm
ε介電常數(shù)、(ε'、ε''介電常數(shù)實(shí)部與虛部)、C電容、(C’、C''電容實(shí)部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實(shí)部與虛部)、Z、(Z'、Z''阻抗實(shí)部與虛部)、
Y導(dǎo)納、Y’、Y''(導(dǎo)納實(shí)部與虛部)、X電抗、Q因數(shù)、cole-cole圖譜、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、等一系列測(cè)量參數(shù)及介電溫譜與頻譜等測(cè)試功能。
操作軟件
測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備穩(wěn)定性與操作an全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。
█ 多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
█ 即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無須等待;
█ 圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對(duì)狀態(tài)說明,了解測(cè)試狀態(tài);
█ 使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;
█ 故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
█ 試驗(yàn)報(bào)告:自定義報(bào)表格式,一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告,可導(dǎo)出EXCEL、PDF格式報(bào)表
硬件配置
軟件兼容:Huace(6500、6800)、Keysight( E4990、E4991、E4980A)、
waynekerr(6500B、6530、4235)同惠(2983、 2838、2851)等阻抗分析儀表。
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
█ 集成打機(jī)印接口,可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
█ 支持16G內(nèi)存,60G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢
阻抗分析儀系列:
模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;
測(cè)量方式:軟件可進(jìn)行介電溫譜與介電頻譜;
溫度設(shè)置:可設(shè)置升溫速度、降溫速度、最大溫度、測(cè)量等待時(shí)間等;
測(cè)量參數(shù):ε介電常數(shù)、(ε'、ε''介電常數(shù)實(shí)部與虛部)、C電容、(C’、C''電容實(shí)部與虛部、D損耗、阻、(R'、R''電阻實(shí)部與虛部)、Z、(Z'、Z''阻抗實(shí)部與虛部)、Y導(dǎo)納、Y’、Y''(導(dǎo)納實(shí)部與虛部)、X電抗、Q因數(shù)、cole-cole圖譜、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、等;
測(cè)量頻率:軟件可設(shè)置測(cè)試的頻率;
數(shù)據(jù)處理:測(cè)量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;
圖像處理:測(cè)量曲線可保存。
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