E4411B Agilent 4291B 射頻阻抗儀

Agilent 4291B 射頻阻抗儀 
深圳佳捷倫電子儀器有限公司
陳娟
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安捷倫4291B射頻阻抗/材料分析儀提供了一個(gè)高***度和容易測(cè)量的表面貼裝元件和介電/磁性??材料的整體解決方案。安捷倫4291B使用直接的電流 - 電壓測(cè)量技術(shù)，反對(duì)反射測(cè)量技術(shù)，為更廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供***的阻抗測(cè)量。
基本阻抗精度為+ / - 0.8％。高Q精度使低損耗的成分分析。內(nèi)部合成器，掃描頻率從1 MHz到1.8 GHz 1 mHz的分辨率。一個(gè)1.8米的錯(cuò)誤更少的電纜連接分析儀測(cè)試站，這樣可以延長(zhǎng)您的測(cè)試點(diǎn)距離分析儀，而不會(huì)失去準(zhǔn)確性。*的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能，消除固定裝置的測(cè)量誤差因素，并保證在DUT / MUT很高的精度和可重復(fù)性。

安捷倫4291B還提供了自動(dòng)電平控制，使用IBASIC編程功能和測(cè)試信號(hào)的監(jiān)控，可以根據(jù)一個(gè)恒定的電壓或電流測(cè)量設(shè)備。測(cè)量偏壓依賴可選直流偏置（高達(dá)40 V和100毫安）的阻抗特性。在按下一個(gè)按鈕，內(nèi)置等效電路分析功能自動(dòng)計(jì)算出5個(gè)電路模型的電路常數(shù)值。

安捷倫4291B有兩個(gè)測(cè)量通道，每個(gè)通道都可以設(shè)置為衡量一個(gè)單一的（如Z）或雙（如Z -θ）阻抗參數(shù)。分割顯示彩色TFT顯示活動(dòng)的痕跡和記憶痕跡（存儲(chǔ)在RAM中）。一個(gè)內(nèi)置的軟盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)程序和LIF或MS - DOS格式的測(cè)試數(shù)據(jù)。隨著內(nèi)置IBASIC，您可以控制??外部測(cè)試設(shè)備，如溫度室或直接從安捷倫4291B晶圓探針。你不需要一個(gè)單獨(dú)的儀器控制器。

材料評(píng)估

惠普/安捷倫4291B可以方便和*的材料評(píng)估和提高材料評(píng)估的質(zhì)量和效率。安捷倫4291B提供了在寬的頻率范圍內(nèi)的總電介質(zhì)/磁材料測(cè)量解決方案（1 MHz至1 GHz）。

備注：
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