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kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試儀

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 目前主要產(chǎn)品涉及材料科學(xué)、微納米技術(shù)、表面測(cè)量和光電器件、光伏產(chǎn)品、半導(dǎo)體器件的檢測(cè)與研發(fā)等領(lǐng)域。

 公司本著以科技為導(dǎo)向、以客戶為中心、以服務(wù)為宗旨,竭誠(chéng)為新老客戶提供貼心的服務(wù)!


AAA 太陽光模擬器,IV測(cè)試,雙燈太陽光模擬器,太陽能電池載流子遷移率測(cè)試系統(tǒng),太陽能電池瞬態(tài)光電壓 光電流測(cè)試,鈣鈦礦太陽能電池&疊層太陽能電池仿真軟件,多通道太陽能電池穩(wěn)定性測(cè)試系統(tǒng),OLED光譜測(cè)量系統(tǒng)/角譜儀分析儀,OLED仿真軟件,高分子壓電系數(shù)測(cè)試儀,薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng),薄膜應(yīng)力測(cè)試儀,薄膜熱應(yīng)力測(cè)試儀,桌面原子層沉積系統(tǒng),鈣鈦礦LED壽命測(cè)試儀,太陽能電池量子效率QE測(cè)量系統(tǒng),石墨烯/碳納米管制備技術(shù),桌面型納米壓印機(jī),太陽能電池光譜響應(yīng)測(cè)試儀,SPD噴霧熱解成膜系統(tǒng),電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測(cè)試系統(tǒng),電容充放電測(cè)試儀,薄膜生長(zhǎng)速率測(cè)試儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子

kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試設(shè)備是一種用于測(cè)量光譜絕對(duì)反射率,L*a*b*成色值和生長(zhǎng)速率的非接觸式測(cè)量設(shè)備。該工具具有多種在線監(jiān)控和過程控制的應(yīng)用功能,包括垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSEL),分布式布拉格反射器(DBR)和其他一些復(fù)雜的設(shè)備結(jié)構(gòu)。該設(shè)備主要應(yīng)用于監(jiān)控測(cè)量sputtering,MBE和MOCVD等薄膜生產(chǎn)研究。


kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試設(shè)備的光學(xué)鏡組被配置為鏡面反射的幾何形狀。在這種測(cè)量原理中,薄膜每生長(zhǎng)出一個(gè)新layer,程序就會(huì)自動(dòng)擬合,將已有的所有基底和薄膜layer視為一個(gè)新的虛擬基底。kSA SpectR可以同時(shí)以多個(gè)波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)量,每個(gè)波長(zhǎng)都具有潛在的特性。此設(shè)備可在選定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)量自定義光譜特征,如反射率的最小值、最大值、拐點(diǎn)或基線散射水平。


測(cè)量實(shí)例

850 nm DBR的光譜反射率

kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試儀


在GaAs襯底上生長(zhǎng)250nm的AlAs和500nm的GaAs時(shí),532和940nm下的反射率及其擬合曲線

kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試儀


AlAs生長(zhǎng)期間的生長(zhǎng)速率,光學(xué)常數(shù)和反射率實(shí)時(shí)擬合曲線

kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試儀

kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試儀


AlAs和GaAs生長(zhǎng)的未經(jīng)校正的高溫計(jì)測(cè)量結(jié)果和經(jīng)過校正的ECP溫度

kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試儀


GaAs薄膜生長(zhǎng)過程中單個(gè)反射率振蕩周期圖

kSA SpectR 光譜反射率測(cè)試儀






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