bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500

bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500是全面的快速，非接觸式3D表面計量自動化臺式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的自動傾斜光學(xué)測頭，可以*編程并自動測試一定角度范圍內(nèi)的表面特征，并能大程度地減少跟蹤誤差。

滿足計量要求，具有Z軸分辨率和準確性，并在更小的占地面積內(nèi)提供了布魯克的白光干涉儀落地式型號所有業(yè)界*的優(yōu)點。

借助其新的USI通用掃描模式，本產(chǎn)品可以輕松地針對各種復(fù)雜應(yīng)用場景定制分析方法。這些場景涵蓋了從精密加工表面和半導(dǎo)體工藝制程，到眼科和MEMS器件的R＆D表征。

高級自動化功能

專有的自動傾斜測頭為生產(chǎn)和監(jiān)測提供了靈活性。通過將自動傾斜測頭與光學(xué)裝置耦合在顯微鏡上，布魯克實現(xiàn)了測試位置不受傾斜角度影響的測量。進一步結(jié)合自動樣品臺和物鏡塔臺，使得bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500非常適合“按需測量”工業(yè)要求，且占用空間小。

先進的臺式三維形貌計量設(shè)備

與放大倍率無關(guān)的業(yè)界Z軸分辨率

高級自動化功能，包含帶編碼器的XY軸樣品臺、自動測頭傾斜和自動亮度調(diào)整

更緊湊的氣動減震臺設(shè)計

優(yōu)質(zhì)的測量與分析功能

易于使用的界面，可快速準確地獲得結(jié)果

廣泛的自動化功能，可量身定制測量和分析程序

廣泛的濾鏡和分析工具

滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告