Nicomp Z3000 Zeta ZETA電位分析儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 上海萊誼納米科技有限公司
品牌 PSS
型號 Nicomp Z3000 Zeta
產(chǎn)地美國
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
更新時間 2024/8/26 12:47:20
訪問次數(shù) 4197

產(chǎn)品標(biāo)簽

納米粒度分析儀激光粒度檢測 Zata電位測定平均粒徑檢測激光粒度分析儀

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公司介紹 主營產(chǎn)品

　　上海萊誼納米科技有限公司成立于2017年，致力于從國外引進(jìn)世界精良的儀器、設(shè)備及技術(shù)，為國內(nèi)的生物醫(yī)藥及半導(dǎo)體等納米科學(xué)領(lǐng)域的客戶提供更多的解決方案。

　　2017年，我公司成為美國Particle Sizing Sytems(PSS)粒度分析儀公司及美國BEE International高壓微射流公司中國區(qū)總代理。為客戶提供納米樣品的均質(zhì)分散，粒度檢測，儀器設(shè)備的銷售，安裝、培訓(xùn)，驗證和維修等所有售后服務(wù)。

　　2018年，公司推出自主研發(fā)的凍融保護(hù)盒產(chǎn)品，并取得國家發(fā)明和新型實用ZL。該產(chǎn)品已經(jīng)推向市場，已有國內(nèi)外多家生物行業(yè)的企業(yè)用戶，如上海復(fù)星，美國百特，賽默飛，默克密理博等。

　　2019年，公司推出自主研發(fā)的高壓微射流均質(zhì)設(shè)備。。

　　我公司的實驗室，配置了高速剪切分散機(jī)，高壓微射流納米均質(zhì)機(jī)，納米粒度分析儀，zeta電位分析儀，顆粒計數(shù)器等儀器設(shè)備。能夠為客戶提供納米制劑的研發(fā)，處方優(yōu)化，中試及放大生產(chǎn)的工藝設(shè)計，設(shè)備選型，生產(chǎn)線建設(shè)等成套服務(wù)。

　　無論是納米材料的制備和生產(chǎn)，還是檢測和品控，我們均能為客戶提供完整的解決方案。

　　本著始于客戶需求、終于客戶滿意的宗旨，我們將竭誠為廣大新老用戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

　　公司現(xiàn)有部分客戶名單：

　　中芯國際，臺積電，三星，LG，長江存儲，揚(yáng)子江藥業(yè)，恒瑞制藥，西安力邦，廣東大冢，四川科倫，湖北人福，復(fù)旦大學(xué)，上海交通大學(xué)，中科院上海藥物所，中國醫(yī)藥工業(yè)研究總院等。

展開

高壓微射流均質(zhì)機(jī)，凍融保護(hù)盒，微流控制平臺，納米激光粒度儀，大顆粒分析儀、激光粒度儀，大乳粒分析儀等

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	分散方式	濕法分散
價格區(qū)間	面議	儀器種類	動態(tài)光散射
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥	粒度范圍	0.3nm--10.0μm
Zeta電位范圍	-500mV ~ +500mV

Nicomp Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有*技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢。

ZETA電位分析儀

技術(shù)優(yōu)勢

1、高靈敏度PMT檢測器；

2、可搭配不同功率光源；

3、準(zhǔn)確度高，接近樣品真實值；

4、可測試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位；

5、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

7、符合USP,CP等個多藥典要求；

8、無需校準(zhǔn)；

9、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換

10、模塊化設(shè)計便于維護(hù)和升級；

（1）可自動稀釋模塊（選配）；

（2）自動進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；

（3）搭配多角度檢測器（選配）；

Nicomp多峰分布概念

基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產(chǎn)生活中不相符，因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。

Nicomp多峰分布優(yōu)勢

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的準(zhǔn)確情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

ZETA電位分析儀優(yōu)勢：

模塊化設(shè)計

Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的*進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 的功能體系越來越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。

選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求

Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯(lián)邦法規(guī)21章第11款（21 CFR PART11）要求的軟件。具有數(shù)據(jù)自動備份，審計追蹤，權(quán)限分級，電子簽名，可連接Lims系統(tǒng)等多項功能。

中國食品藥品監(jiān)督管理局（NMPA）有政策趨勢將對醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實施規(guī)范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求。

ZETA電位分析儀