日本電子掃描電子顯微鏡JSM-6510出租

設(shè)計的超級圓錐型物鏡，保證3nm的分辨率。很容易得到高質(zhì)量照片。

廣域掃描線圈可以得到低5倍的放大倍數(shù)從而提高觀察樣品的效率。

電子光學(xué)系統(tǒng)可以在大束流下形成小束斑，有利于微區(qū)分析。

JSM6510系列超級圓錐形物鏡，在工作距離8mm時的分辨率為3nm，超級圓錐形物。

外形設(shè)計可以做到短工作距離情況下，樣品仍然可以大角度傾斜。

JEOL開發(fā)的全自動電子槍能夠產(chǎn)生極小電子束源，只要選擇好加速電壓，就可以進(jìn)行觀察或成分分析。

電子槍偏壓是調(diào)節(jié)電子槍亮度的重要部件。JEOL的無縫自給加壓系統(tǒng)能隨著電壓變化隨時調(diào)整偏壓，使得無論選擇哪個加速電壓，都能得到亮度。

JEOL*的像散記憶功能能夠自動糾正隨加速電壓或工作距離改變而產(chǎn)生的像散。

雙實時顯示模式可以用于不同信號圖像的對比，用戶可在觀察表面形貌的同時了解樣品的成份分布情況。

選用多種圖像顯示模式時，點擊“PHOTO”按紐可同時獲得并存儲2或3幅全屏尺度圖像。

簡單易懂的操作接口及菜單

操作接口簡單，直觀，默認(rèn)的操作接口顯示了的功能按鈕，并以簡單圖文標(biāo)明，點擊鼠標(biāo)即可操作所有功能。

實時量測，圖片上的長度和角度等結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)能在顯示器上進(jìn)行測量。

可變焦聚光鏡修正

做表面觀察和元素分析等不同應(yīng)用時，選擇合適束流非常重要，一般是通過聚光鏡與物鏡光闌來控制電子束流的。

如果在調(diào)整束流過程中，焦點和觀察區(qū)域位移變化很小，調(diào)整起來會比較方便。JEOL*的可變焦聚光鏡可以保證這一點。

全對中樣品臺

當(dāng)樣品臺傾斜時，全對中樣品臺可使圖像位移和焦點變化小。

使用此樣品臺可多方向觀察粗糙表面樣品，采用一些不同角度攝取的圖片組成立體圖片，可通過立體圖片觀察深度。

低真空SEM

低真空掃描電鏡，除了包括高真空模式外，還包括低真空模式，在低真空模式下，不導(dǎo)電樣品以及容易放氣的樣品都可以直接觀察。

結(jié)合JEOL*的冷凍干燥技術(shù)，可在低真空模式下快速觀察含水樣品。