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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>探傷機/探傷儀> TomoView軟件

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TomoView軟件

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相控陣儀探傷儀TomoView

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增宜檢測技術(shù)(上海)有限公司是一家專注于無損檢測設(shè)備,理化分析計量儀器,實驗室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽*的先進(jìn)產(chǎn)品。

我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機、平板探測器、磁粉探傷機、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設(shè)備。

我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高??蒲械榷鄠€行業(yè)領(lǐng)域,并贏得了廣大用戶的良好口碑。

公司秉承“至信卓業(yè),客戶至上”的經(jīng)營宗旨,崇尚“專業(yè),高效,共贏”的服務(wù)理念,為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。

主要代理如下公司產(chǎn)品:

奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀

 

Third Dimension英國三維激光間隙測量儀

 

ZETEC探傷儀

 

GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機

 

萬睿視平板探測器/管頭

 

Eddyfi & M2M探傷儀

 

美國磁通磁粉滲透

Eddyfi & M2M探傷儀

 

奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2,英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀,美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器,奧林巴斯超聲波探傷儀,奧林巴斯渦流探傷儀,內(nèi)窺鏡,元素分析儀,美國磁粉滲透

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工
TomoView是一個基于PC機的軟件,用于檢測程序的設(shè)計、數(shù)據(jù)的采集,以及超聲信號的顯示。其對超聲參數(shù)的配置具有很大的靈活性,而且可以顯示不同類型的視圖,這就保證了軟件可用于從工業(yè)到研究領(lǐng)域的各種應(yīng)用中。
TomoView的設(shè)計目的是與多款奧林巴斯相控陣(PA)或常規(guī)超聲(UT)儀器配套使用,完成超聲檢測數(shù)據(jù)采集,并使您為自己的應(yīng)用靈活地選擇配置。
支持的采集設(shè)備
TomoScan FOCUS LT
TomoScan FOCUS LT(架式)
MultiScan MS 5800
OmniScan MX2 PA & UT
OmniScan MX PA & UT
TomoView軟件可與Microsoft Windows、XP、Windows Vista、Windows 7兼容,既可以在標(biāo)準(zhǔn)筆記本電腦中有效運行,也可用于臺式工作站中。它可以處理大容量的數(shù)據(jù)文件(最大容量為2 GB)。
多技術(shù)管理
TomoView具有同時利用多種技術(shù)的高級性能,可以進(jìn)行常規(guī)UT、相控陣(脈沖回波、一發(fā)一收或穿透)及TOFD采集。您在使用TomoView進(jìn)行超聲檢測應(yīng)用時,可通過自己的方式創(chuàng)建適用于自己應(yīng)用的*檢測配置。
強大的設(shè)計和數(shù)據(jù)采集軟件
靈活的相控陣配置
TomoView高級計算器是TomoView包中的一個不可少的強大組件。這個計算器可利用預(yù)先編程的楔塊、探頭及材料數(shù)據(jù)庫,為1-D線性陣列、1-D環(huán)形陣列及2-D矩形陣列探頭,輕松、精確地編制角度聲束和聚焦點。
高級計算器可用于為平面和圓形幾何體編制扇形、線性和深度掃查聚焦法則,可支持動態(tài)深度聚焦(DDF),還可用于生成與OmniScan兼容的聚焦法則文件(.law)。
此外,所獲得聲束和角度聲束的圖像顯示為您提供了一個重要的驗證工具?!奥晥瞿M模塊”是一個可選項,可提供2-D或3-D視圖中空間散射場的模擬。
TomoScan FOCUS LT釋放了TomoView的潛能
與奧林巴斯的FOCUS LT配套使用,TomoView軟件會變得更強大。軟件性能如下:
使用FOCUS LT 64:128和64:64模塊,每個聚焦法則可以最多包含64個晶片,可為2-D矩陣探頭和2-D雙晶矩陣探頭提供更好的缺陷定義性能、材料穿透力和靈活適用性。
高級R-O配置,具有使用不同晶片配置發(fā)射脈沖和接收信號的能力。
高PRF(脈沖重復(fù)頻率),適用于需要快速檢測的應(yīng)用。
DDF(動態(tài)深度聚焦),可大幅提高分辨率,同時保持優(yōu)化的檢測速度。
最多可使用5個閘門(一個同步閘門,4個檢測閘門)。
使用TomoView可最多并行管理3個FOCUS LT設(shè)備,因此可最多提高3倍的采集速度。




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