S100/S200/S300 第三代半導(dǎo)體電性能測(cè)試用源表

第三代半導(dǎo)體電性能測(cè)試用源表支持四象限工作，源和負(fù)載；電壓及電流范圍廣，最小電流分辨率10pA，電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V，準(zhǔn)確度為0.1%；5寸觸摸顯示屏圖形化操作，內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶(hù)完成測(cè)試；支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)；   

源表突出特點(diǎn)：使用一臺(tái)儀器進(jìn)行多種測(cè)量；

應(yīng)用領(lǐng)域：

分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等

傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等

有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等

納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線(xiàn)等

測(cè)試功能：

S系列源表特點(diǎn)：

1. 5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作            

2. 內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶(hù)完成測(cè)試，如LIV、PIV

3. 源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5位半

4. 四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至10pA

5. 豐富的掃描模式，支持線(xiàn)性?huà)呙?、指?shù)掃描及用戶(hù)自定義掃描

6. 支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

7. 支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)  

   
   

   
   

應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：

1、 多功能測(cè)量需求下的廣泛的適應(yīng)性，電壓高300V，電流低至100pA；

2、 實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測(cè)量同步進(jìn)行，提高測(cè)試效率。

3、 具備對(duì)測(cè)試器件的保護(hù)功能，可進(jìn)行自我限制，避免因過(guò)充而造成的對(duì)測(cè)試器件的損害；

精確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護(hù)功能，避免器件損壞。

4、 觸屏圖形化操作，使用簡(jiǎn)單。開(kāi)放式平臺(tái)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對(duì)性的開(kāi)發(fā)軟件。

國(guó)產(chǎn)優(yōu)勢(shì)

1、自主研發(fā)，符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求；

2、性?xún)r(jià)比高；

3、可及時(shí)與客戶(hù)溝通，為客戶(hù)提供高性?xún)r(jià)比系統(tǒng)解決方案。及時(shí)指導(dǎo)客戶(hù)編程，加速測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)。

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